机译:田口法制刚挠印制电路板PTH可靠性的有限元模型与实验分析
Department of Industrial and Systems Engineering, The Hong Kong Polytechnic University, Hung Horn, Hong Kong;
Department of Industrial and Systems Engineering, The Hong Kong Polytechnic University, Hung Horn, Hong Kong;
School of Reliability and Systems Engineering, Beihang University, No. 37, XueYuan Rd., HaiDian Dist., Beijing 100191, China;
plated-through-hole; fatigue life; finite element model; thermo-mechanical stress/strain; rigid-flex printed circuit;
机译:通过实验模态分析验证封装印刷电路板的有限元模型
机译:基于可靠性的Taguchi方法和有限元方法对摩托车车架的耐撞性和风险分析
机译:有限元方法应用于印刷电路板上串扰问题的建模
机译:实验模态分析校准封装印刷电路板的等效有限元模型
机译:混合有限元方法/矩量法(FEM / MoM)工具的开发和应用,用于对印刷电路板中的电磁兼容性和信号完整性问题进行建模。
机译:3D打印实验验证颌面模型的有限元分析
机译:田口法在刚挠印制电路中PTH可靠性的有限元模型和实验分析
机译:Rigid-Flex印刷电路制造工艺。制造技术计划项目