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机译:比较形成气体,氮气和真空退火对X射线辐照MOSFET的影响
机译:同步辐射对4nm厚栅极氧化物MOSFET器件特性和抗热载流子损伤的影响
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机译:LaSiO
机译:γ射线辐照对6G-SiC MOSFET退火后的电特性的影响
机译:中子辐照对功率MOSFET击穿电压的影响
机译:在高真空下高温退火引起的表面声波器件中压电硅铜矿衬底的表面效应和挑战
机译:氮化面层和微观结构对氮气气氛中的商业纯钛板中压制成形性的影响