机译:位移损伤对SiC肖特基势垒功率二极管正向偏置特性的影响
Schottky diodes; doping profiles; power semiconductor diodes; proton effects; radiation hardening (electronics); silicon compounds; wide band gap semiconductors; 203 MeV; I-V characteristics; SiC; commercial SiC Schottky barrier power diodes; displacement damage ef;
机译:界面状态和串联电阻对Al–TiW–Pd_2Si / n-Si肖特基势垒二极管的正向和反向偏置I–V,C–V和G /ω-V特性的影响
机译:具有非晶扩散势垒的Al-TiW-PtSi / n-Si肖特基势垒二极管中正向和反向偏置电流-电压特性的温度依赖性
机译:SiC肖特基二极管IV特性的位移损伤剂量和低退火温度的ANOVA分析
机译:使用感应雷电应用测试的失效SiC肖特基势垒二极管和Si肖特基势垒二极管的特性
机译:SiC上的肖特基势垒二极管的设计与制造。
机译:基于P型伪垂直金刚石肖特基势垒二极管正向电流-电压特性的迁移模型
机译:高压SiC电源MOSFET中单事件烧坏的离子诱导能量脉冲机制及结屏障肖特基二极管