机译:商业批量65nm CMOS SRAM和触发器中的单事件翻转和多单元翻转建模
Central CAD and Design Solutions, STMicroelectronics, Crolles, France;
DICE; MCU; Monte-Carlo simulation; Radiation-Hardened-By-Design; SEU; SEU cross-section; SPICE;
机译:40nm CMOS 6 T SRAM单元中的新型单事件翻转
机译:单事件电荷收集和40nm双阱和三阱批量CMOS SRAM的失电
机译:用于散装65-NM CMOS模拟电路的金属氧化物 - 金属电容器和二极管的单事件镦锻响应
机译:商业批量65 nm CMOS SRAM和触发器中的单事件翻转和多单元翻转建模
机译:批量CMOS中未硬化和硬化触发器的单事件翻转技术缩放趋势
机译:缓解癫痫神经刺激器的位翻转或单事件不适
机译:纳米级CMOS技术的单一事件多次易易宽容的SRAM单元设计
机译:CmOs sRam中单粒子翻转的分析模型和实验结果比较