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2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems
2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems
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1.
“Effective NIEL” in silicon: Calculation using molecular dynamic simulation results
机译:
硅中的“有效NIEL”:使用分子动力学模拟结果进行计算
作者:
Inguimbert C.
;
Arnolda P.
;
Nuns T.
;
Rolland G.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
Atomic displacement;
Kinchin Pease;
NIEL;
cross section;
energy partition function;
threshold energy;
2.
A deep level transient spectroscopy study of electron and proton irradiated p
+
n GaAs diodes
机译:
电子和质子辐照的p
+ sup> n GaAs二极管的深层瞬态光谱研究
作者:
Warner Jeffrey H.
;
Messenger Scott R.
;
Walters Robert J.
;
Ringel Steve A.
;
Brenner Mark R.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
DLTS;
GaAs;
NIEL;
displacement damage;
electron irradiation;
introduction rate;
irradiation;
molecular beam epitaxy (MBE);
proton irradiation;
recoil spectrum;
3.
Influence of back-gate bias and process conditions on the gamma-degradation of the transconductance of MuGFETs
机译:
背栅偏置和工艺条件对MuGFET跨导的γ降解的影响
作者:
Put S.
;
Simoen E.
;
Collaert N.
;
De Keersgieter A.
;
Claeys C.
;
Van Uffelen M.
;
Leroux P.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
Back-gate bias;
Gamma irradiation;
MuGFETs;
Rotated transistors;
Selective Epitaxial Growth (SEG);
Transconductance;
4.
Effects of moisture on radiation-induced degradation in CMOS SOI transistors
机译:
水分对CMOS SOI晶体管中辐射引起的退化的影响
作者:
Shaneyfelt Marty R.
;
Schwank James R.
;
Dodd Paul E.
;
Hill Tom A.
;
Dalton Scott M.
;
Swanson Scot E.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
MOS radiation effects;
aging effects;
hydrogen exposure;
ionizing radiation;
moisture exposure;
silicon-on-insulator;
5.
Radiation effects in SiGe p-MODFETs grown on Silicon-on-Sapphire substrates
机译:
在蓝宝石上的硅衬底上生长的SiGe p-MODFET中的辐射效应
作者:
Madan Anuj
;
Mo Jiong Jiong
;
Arora Rajan
;
Phillips Stanley D.
;
Cressler John D.
;
Marshall Paul W.
;
Schrimpf Ronald D.
;
Koester Steven J.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
MODFET;
SOS;
SiGe;
radiation effects;
6.
Impact of neutron irradiation on oxidized high-resistivity silicon substrates with and without a trap-rich passivation layer
机译:
中子辐照对具有和不具有富陷阱钝化层的氧化高阻硅衬底的影响
作者:
Neve C. Roda
;
Kilchytska V.
;
Alvarado J.
;
Lederer D.
;
Militaru O.
;
Flandre D.
;
Raskin J.-P.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
Parasitic Surface Conduction effect;
RF performance;
high-resistivity silicon;
neutron irradiation;
trap-rich passivation layer;
7.
Radiation environments and shielding approach for Jupiter Europa Orbiter (JEO)
机译:
木星欧罗巴轨道器(JEO)的辐射环境和屏蔽方法
作者:
Jun I.
;
Clark K.
;
Yan T-Y
;
van Houten T.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
8.
MATSIM: Development of a voxel model of the MATROSHKA astronaut dosimetric phantom exposed onboard ISS
机译:
MATSIM:在国际空间站上暴露的MATROSHKA宇航员剂量模型的体素模型的开发
作者:
Beck P.
;
Berger Th.
;
Hajek M.
;
Latocha M.
;
Reitz G.
;
Rollet S.
;
Vana N.
;
Zechner A.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
9.
The radiation environment and effects for future ESA cosmic vision missions
机译:
未来ESA宇宙视觉任务的辐射环境和影响
作者:
Sorensen J.
;
Santin G.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
Environment;
Radiation;
Shielding;
Space;
10.
Electron environment specification models for navigation orbits
机译:
导航轨道的电子环境规范模型
作者:
Bourdarie S.
;
Lazaro D.
;
Hands A.
;
Ryden K.
;
Nieminen P.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
11.
Session A: Devices, integrated circuits and MEMS
机译:
分会A:设备,集成电路和MEMS
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
12.
Session B: Single event effects: Devices and integrated circuits
机译:
B节:单一事件的影响:设备和集成电路
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
13.
Modeling of ionizing radiation-induced degradation in multiple gate field effect transistors
机译:
多栅极场效应晶体管中电离辐射引起的退化的建模
作者:
Esqueda Ivan S.
;
Barnaby Hugh J.
;
Holbert Keith E.
;
Mamouni Farah E.
;
Schrimpf Ronald D.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
FinFETs;
Multiple gate field effect transistors (MuGFETs);
silicon-on-insulator (SOI);
total ionizing dose (TID);
14.
Total-dose effects caused by high-energy neutrons and γ-rays in Multiple-Gate FETs
机译:
多门FET中高能中子和γ射线引起的总剂量效应
作者:
Kilchytska V.
;
Alvarado J.
;
Collaert N.
;
Rooyakers R.
;
Militaru O.
;
Berger G.
;
Flandre D.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
γ irradiation;
FinFETs;
high-energy neutrons;
interface traps;
15.
Front-end performance and charge collection properties of heavily irradiated DNW MAPS
机译:
严重辐射的DNW MAPS的前端性能和电荷收集特性
作者:
Ratti Lodovico
;
Dellagiovanna Marco
;
Manghisoni Massimo
;
Re Valerio
;
Traversi Gianluca
;
Zucca Stefano
;
Bettarini Stefano
;
Morsani Fabio
;
Rizzo Giuliana
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
CMOS;
MAPS;
analog front-end;
deep N-well;
ionizing radiation;
16.
The effect of proton and gamma radiation on different types of temperature sensors
机译:
质子和伽马射线对不同类型温度传感器的影响
作者:
Gonzalez-Guerrero Miguel
;
Alvarez Maria T.
;
Jimenez Juan J.
;
Sanchez-Paramo Jaime
;
Guerrero Hector
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
Temperature sensors;
bipolar linear circuits;
radiation effects;
total ionizing dose;
17.
TID and displacement damage effects in vertical and lateral power MOSFETs for integrated DC-DC converters
机译:
集成DC-DC转换器在垂直和横向功率MOSFET中的TID和位移损坏效应
作者:
Faccio F.
;
Allongue B.
;
Blanchot G.
;
Fuentes C.
;
Michelis S.
;
Orlandi S.
;
Sorge R.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
DC-DC converter;
LDMOS;
displacement damage;
radiation effects;
18.
Using Oxide-Trap Charge-Pumping method in radiation reliability analysis of short lightly doped drain transistor
机译:
氧化物诱捕电荷泵法在短轻掺杂漏极晶体管辐射可靠性分析中的应用
作者:
Djezzar Boualem
;
Tahi Hakim
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
Charge pumping;
LDD-Transistor;
OTCP;
Radiation-Induced traps;
19.
Modelling of γ-radiation effects in bipolar transistors with VHDL-AMS
机译:
用VHDL-AMS对双极晶体管中的γ辐射效应进行建模
作者:
De Cock Wouter
;
Versmissen Hans
;
Leroux Paul
;
Van Uffelen Marco
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
20.
Effects of proton and ion beam irradiation on titanium dioxide memristors
机译:
质子和离子束辐照对二氧化钛忆阻器的影响
作者:
Vujisic Milos
;
Stankovic Koviljka
;
Osmokrovic Predrag
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
Memristor;
Monte Carlo method;
ions;
protons;
titanium dioxide;
21.
A MEMS dosimeter comprising diamond for very high neutron fluence
机译:
包含金刚石的MEMS剂量计,用于非常高的中子注量
作者:
Davidson J. L.
;
Kang W. P.
;
Basu P. K.
;
Holmes-Siedle Andrew G.
;
Galloway K. F.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
CVD diamond;
MEMS;
dosimeter;
neutron fluence;
22.
Current — Voltage characterization of SHI irradiated silicon bipolar power transistor
机译:
电流— SHI辐照的硅双极型功率晶体管的电压特性
作者:
Dinesh C M
;
Ramani
;
Radhakrishna M C
;
Madhu K V
;
Jayashree B
;
Khan S A
;
Kanjilal D
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
Displacement Damage;
Linear Energy Transfer;
Radiation Hardness;
Silicon;
23.
Total dose effect on the propagation of single event transients in a CMOS inverter string
机译:
总剂量对CMOS逆变器串中单事件瞬变传播的影响
作者:
Buchner Stephen
;
Sibley Michael
;
Eaton Paul
;
Mavis David
;
McMorrow Dale
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
24.
Large SET broadening in a fully-depleted SOI technology — Mitigation with body contacts
机译:
完全耗尽的SOI技术中的大型SET扩展-与身体接触的缓解
作者:
Ferlet-Cavrois V.
;
Kobayashi D.
;
McMorrow D.
;
Schwank J. R.
;
Ikeda H.
;
Gaillardin M.
;
Flament O.
;
Hirose K.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
Propagation induced broadening;
Single Event Transient;
body contacts;
floating body effect;
25.
Analysis of SET propagation in flash-based FPGAs by means of electrical pulse injection
机译:
通过电脉冲注入分析基于闪存的FPGA中的SET传播
作者:
Battezzati N.
;
Sterpone L.
;
Ferlet-Cavrois V.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
Characterization;
Flash-based FPGAs;
Single Event Transients (SETs);
26.
Estimation of heavy-ion LET thresholds in advanced SOI IC technologies from two-photon absorption laser measurements
机译:
通过双光子吸收激光测量估算先进SOI IC技术中的重离子LET阈值
作者:
Schwank James R.
;
Shaneyfelt Marty R.
;
McMorrow Dale
;
Ferlet-Cavrois Veronique
;
Dodd P. E.
;
Heidel David F.
;
Marshall Paul W.
;
Pellish Jonathan A.
;
LaBel Kenneth A.
;
Rodbell Kenneth P.
;
Hakey Mark
;
Flores Richard S.
;
Swanson Scot E.
;
Dalton Scott M.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
27.
Layout-aware multi-cell upsets effects analysis on TMR circuits implemented on SRAM-based FPGAs
机译:
对基于SRAM的FPGA上实现的TMR电路具有布局意识的多单元扰动效果分析
作者:
Sterpone L.
;
Violante M.
;
Bocquillon A.
;
Miller F.
;
Buard N.
;
Manuzzato A.
;
Gerardin S.
;
Pacagnella A.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
Laser testing;
Multi-Cell Upsets;
SRAM-based FPGAs;
Static Analysis;
28.
The role of the charge generated during heavy ion irradiation in the gate damage of medium voltage power MOSFET
机译:
重离子辐照过程中产生的电荷在中压功率MOSFET栅极损坏中的作用
作者:
Busatto G.
;
Curro G.
;
Iannuzzo F.
;
Porzio A.
;
Sanseverino A.
;
Velardi F.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
Latent gate damage;
Power MOSFETs;
SEGR;
29.
Investigation of single event burnout sensitive depth in power MOSFETS
机译:
功率MOSFET中单事件烧断敏感深度的研究
作者:
Darracq F.
;
Pouget V.
;
Lewis D.
;
Fouillat P.
;
Lorfevre E.
;
Ecoffet R.
;
Bezerra F.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
SEB;
TPA laser testing;
modeling;
power MOSFET;
30.
Annealing of heavy-ion induced floating gate errors: LET and feature size dependence
机译:
重离子诱导的浮栅误差的退火:LET和特征尺寸依赖性
作者:
Bagatin Marta
;
Gerardin Simone
;
Cellere Giorgio
;
Paccagnella Alessandro
;
Visconti Angelo
;
Beltrami Silvia
;
Bonanomi Mauro
;
Harboe-Sorensen Reno
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
Annealing;
Flash memories;
Heavy ions;
Radiation Effects;
31.
Single event gate rupture in 130-nm CMOS transistor arrays subjected to X-ray irradiation
机译:
经受X射线照射的130 nm CMOS晶体管阵列中的单事件门破裂
作者:
Silvestri Marco
;
Gerardin Simone
;
Faccio Federico
;
Paccagnella Alessandro
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
SEGR;
SLHC;
X-ray;
gate rupture;
heavy ions;
ultra-thin gate oxides;
32.
In flight observation of proton induced destructive single event phenomena
机译:
在飞行中观察质子诱发的破坏性单事件现象
作者:
Bezerra Francoise
;
Lorfevre Eric
;
Ecoffet Robert
;
Peyre Daniel
;
Binois Christain
;
Duzellier Sophie
;
Falguere Didier
;
Nuns Thierry
;
Melotte Michel
;
Calvel Philippe
;
Marec Ronan
;
Chatry Nathalie
;
Falo William
;
Deneau Christelle
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
Burnout;
CARMEN2;
Latch-up;
SEE;
protons;
33.
Single event effects on CVSL and CMOS exclusive-OR (EX-OR) circuits
机译:
单事件对CVSL和CMOS异或(EX-OR)电路的影响
作者:
Hatano Hiroshi
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
34.
Two-Photon Absorption (TPA) backside pulsed laser tests in the LM324
机译:
LM324中的双光子吸收(TPA)背面脉冲激光测试
作者:
Lopez-Calle I.
;
Franco F. J.
;
Izquierdo J. G.
;
Agapito J. A.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
LM324;
Laser;
Operational Amplifiers;
Single Event Transients;
Two-Photon Tests;
35.
Physical evidence for the electrical signature of SEGR on thin vertical oxides
机译:
薄垂直氧化物上SEGR电气签名的物理证据
作者:
Lawrence Reed K.
;
Zimmerman Jeffery A.
;
Ross Jason F.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
single event gate rupture;
trench capacitor;
36.
Investigation of neutron and proton SEU cross-sections on SRAMs between a few MeV and 50 MeV
机译:
研究几个MeV至50 MeV之间的SRAM的中子和质子SEU横截面
作者:
Lambert Damien
;
Desnoyers Francois
;
Thouvenot Didier
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
Radiation effects;
SRAM;
neutron;
proton;
single event upset;
37.
An approach to single event testing of SDRAMs
机译:
SDRAM的单事件测试方法
作者:
Adell Philippe C.
;
Edmonds Larry
;
McPeak Richard
;
Scheick Leif
;
McClure Steve S.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
SDRAMs;
Single Event Effects;
micro-displacement;
stuck bits;
38.
A CMOS integrated system for SEE-induced transients acquisition
机译:
用于SEE感应瞬态采集的CMOS集成系统
作者:
Bota S. A.
;
Merino J. L.
;
Alorda B.
;
Verd J.
;
Torrens G.
;
Segura J.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
Monolithic integrated circuits;
Single-event transients;
analog memory;
soft errors;
transient current monitoring;
39.
Session C: Single event effects: Mechanisms and modeling
机译:
C节:单一事件的影响:机制和建模
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
40.
Gate bias dependence of single event charge collection in AlSb/InAs HEMTs
机译:
AlSb / InAs HEMT中单事件电荷收集的栅极偏置依赖性
作者:
DasGupta S.
;
McMorrow D.
;
Reed R. A.
;
Schrimpf R. D.
;
Boos J. Brad
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
AlSb/InAs;
Charge Ccllection;
HEMT;
Single Event;
TCAD;
41.
Development of a new methodology to model the synergistic effects between TID and ASETs
机译:
开发一种新的方法来模拟贸易与投资促进机构与资产支持机构之间的协同效应
作者:
Roche Nicolas J-H.
;
Dusseau L.
;
Boch J.
;
Velo Y. Gonzalez
;
Vaille J. R.
;
Saigne F.
;
Auriel G.
;
Azais B.
;
Buchner S. P.
;
Marec R.
;
Calvel P.
;
Bezerra F.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
Analog integrated circuits;
Bipolar circuits;
Integrated circuit modeling;
Ionizing Dose;
Single Event Transient;
Transient propagation;
Transient response;
42.
MUSCA SEP
3
contributions to investigate the direct ionization proton upset in 65nm technology for space, atmospheric and ground applications
机译:
MUSCA SEP
3 sup>对研究65nm技术在太空,大气和地面应用中的直接电离质子扰动做出了贡献
作者:
Hubert G.
;
Duzellier S.
;
Bezerra F.
;
Ecoffet R.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
direct ionization of proton;
nanometric technology;
operational SER;
space — atmospheric — ground applications;
43.
Collected charge analysis for a new advanced transient model by TCAD simulation in 90nm technology
机译:
通过90nm技术中的TCAD仿真对新的高级瞬态模型进行电荷分析
作者:
Artola L.
;
Hubert G.
;
Bezerra F.
;
Duzellier S.
;
Castellani-Coulie K.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
Charge collection model;
Heavy Ion;
TCAD simulation;
depletion zone;
single event effect;
44.
Single event upset and multiple cell upset modeling in commercial bulk 65 nm CMOS SRAMs and flip-flops
机译:
商业批量65 nm CMOS SRAM和触发器中的单事件翻转和多单元翻转建模
作者:
Uznanski Slawosz
;
Gasiot Gilles
;
Roche Philippe
;
Tavernier Clement
;
Autran Jean-Luc
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
45.
Analysis of the single event effects for a 90nm CMOS phase-locked loop
机译:
90nm CMOS锁相环的单事件效应分析
作者:
Kauppila A. V.
;
Loveless T. D.
;
Vaughn G. L.
;
Bhuva B. L.
;
Massengill L. W.
;
Holman W. T.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
Phase locked loops;
single event transients;
46.
TCAD mixed-mode simulation of bitflip with pulsed laser
机译:
TCAD脉冲激光翻转的混合模式仿真
作者:
Palomo F. R.
;
Mogollon J. M.
;
Napoles J.
;
Aguirre M. A.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
47.
Enabling mixed-mode analysis of nano-scale SiGe BiCMOS technologies in extreme environments
机译:
在极端环境下启用纳米级SiGe BiCMOS技术的混合模式分析
作者:
Turowski Marek
;
Raman Ashok
;
Fedoseyev Alex
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
3D semiconductor device modeling;
Geant4;
extreme low temperatures;
nuclear and space radiation effects;
radiation hardening;
single event effects;
48.
Layout-oriented simulation of non-destructive single event effects in CMOS IC blocks
机译:
面向布局的CMOS IC模块中非破坏性单事件效应的仿真
作者:
Do Enrico
;
Liberali Valentino
;
Stabile Alberto
;
Calligaro Cristiano
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
Radiation effects;
charge collection simulation;
hardening by design;
single-event effects;
49.
Efficient single event upset simulations of a tolerant PD SOI CMOS D Flip-Flop
机译:
宽容PD SOI CMOS D触发器的有效单事件翻转模拟
作者:
Alvarado J.
;
Kilchytska V.
;
Berger G.
;
Flandre D.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
Circuit and device simulation;
heavy ion irradiation;
silicon on insulator;
single event upset;
50.
3D Simulation of charge collection and MNU in SEU hardened storage cells
机译:
SEU硬化存储单元中电荷收集和MNU的3D模拟
作者:
Liu Lin
;
Zhao Yuanfu
;
Yue Suge
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
Charge collection;
hardened cells;
multiple-node upset (MNU);
51.
Methodology of soft error rate computation in modern microelectronics
机译:
现代微电子学中软错误率计算的方法论
作者:
Zebrev G. I.
;
Ishutin I. O.
;
Useinov R. G.
;
Anashin V. S.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
Energy Deposition;
LET;
Multiple Bit Error;
Nuclear Reactions;
Sensitive Volume;
Soft Error Rate;
Straggling;
52.
Analyze of current components in NMOS single event transient
机译:
NMOS单事件瞬态中的电流成分分析
作者:
Zheng Liu
;
Shuming Chen
;
Bin Liang
;
Biwei Liu
;
Zhenyu Zhao
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
SET current pulse;
diffusion current;
mixed-mode TCAD simulation;
parasitic bipolar conduction;
plateau current;
53.
A Monte Carlo-based control signal generator for single event effetc (SEE) fault injection
机译:
基于蒙特卡洛的控制信号发生器,用于单事件效果(SEE)故障注入
作者:
Zheng Hongchao
;
Fan Long
;
Yue Suge
;
Liu Liquan
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
FPGA-based emulation;
Fault Injection;
Monte Carlo;
SEE;
54.
Effect of multiple injections on the SEEs in SRAM cell
机译:
多次注入对SRAM单元中SEE的影响
作者:
Toure G.
;
Portal J.-M.
;
Hubert G.
;
Castellani-Coulie K.
;
Lesea A.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
90nm technology;
MUSCA SEP3;
SEU cross section;
SPICE modeling;
55.
Angular and strain dependence of heavy-ions induced degradation in SOI FinFETs
机译:
重离子诱导SOI FinFET退化的角度和应变依赖性
作者:
Griffoni Alessio
;
Gerardin Simone
;
Meneghesso Gaudenzio
;
Paccagnella Alessandro
;
Simoen Eddy
;
Claeys Cor
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
FinFET;
Silicon On Insulator (SOI);
heavy-ion irradiation;
high-k;
microdose;
reliability;
strain;
56.
Effects of halo doping and Si capping layer thickness on total-dose effects in Ge p-MOSFETs
机译:
晕掺杂和硅覆盖层厚度对Ge p-MOSFET中总剂量效应的影响
作者:
Arora Rajan
;
Mitard Jerome
;
Madan Anuj
;
Simoen Eddy
;
Zhang Enxia X.
;
Fleetwood Daniel M.
;
Choi Bo K.
;
Schrimpf Ronald D.
;
Galloway Kenneth F.
;
Kulkarni Shrinivas R.
;
Meuris Marc
;
Claeys Cor
;
Cressler John D.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
MOSFET;
diode;
germanium;
psup+/sup-n;
x-ray;
57.
Comparison of γ and β-ray irradiation effects in sol-gel Ge-doped SiO
2
机译:
溶胶凝胶Ge掺杂的SiO
2 inf>中γ和β射线辐照效果的比较
作者:
Alessi A.
;
Agnello S.
;
Gelardi F. M.
;
Sporea D. G.
;
Oproiu C.
;
Brichard B.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
glass;
optical fiber materials;
optical spectroscopy;
radiation effects;
58.
The conversion model of low dose rate effect in bipolar transistors
机译:
双极晶体管中低剂量率效应的转换模型
作者:
Pershenkov V. S.
;
Savchenkov D. V.
;
Bakerenkov A. S.
;
Ulimov V. N.
;
Nikiforov A. Y.
;
Chumakov A. I
;
Romanenko A. A.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
ELDRS;
conversion model;
interface trap;
59.
Semi-empirical LET descriptions of heavy ions used in the European Component Irradiation Facilities
机译:
欧洲成分辐照设施中使用的重离子的半经验LET描述
作者:
Javanainen A.
;
Trzaska W. H.
;
Harboe-Sorensen R.
;
Virtanen A.
;
Berger G.
;
Hajdas W.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
Classical Bohr theory;
European Component Irradiation Facilities;
HIF;
Linear energy transfer in silicon;
RADEF;
heavy ions;
60.
Single event transients in scaled CMOS operational amplifiers
机译:
缩放CMOS运算放大器中的单事件瞬变
作者:
Chukwuma Ozegbe
;
Attia John
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
CMOS Op Amps;
Continuous-time Fourier Transform;
FFT;
Single Event Transient;
61.
Session E: Hardness assurance
机译:
E场:硬度保证
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
62.
Bias effects on total dose-induced degradation of bipolar linear microcircuits for switched dose-rate irradiation
机译:
偏置对剂量率转换的双极线性微电路总剂量诱导降解的影响
作者:
Velo Y. Gonzalez
;
Boch J.
;
Roche N. J-H.
;
Perez S.
;
Vaille J-R.
;
Dusseau L.
;
Saigne F.
;
Lorfevre E.
;
Schrimpf R. D.
;
Chatry C.
;
Canals A.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
Accelerated Test Technique;
Bipolar Technology;
Enhanced Low Dose Rate Sensitivity (ELDRS);
Total Dose;
dose rate;
63.
Enhancing observability of signal composition response and error signatures during dynamic SEE analog to digital device testing
机译:
在动态SEE模数转换器测试期间增强信号成分响应和错误签名的可观察性
作者:
Berg M.
;
Buchner S.
;
Kim H.
;
Friendlich M.
;
Perez C.
;
Phan A.
;
Seidleck C.
;
LaBel K.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
64.
Failure modes and hardness assurance for linear integrated circuits in space applications
机译:
空间应用中线性集成电路的故障模式和硬度保证
作者:
Johnston A. H.
;
Rax B. G.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
65.
Laser SEL sensitivity mapping of SRAM cells
机译:
SRAM单元的激光SEL灵敏度映射
作者:
Burnell A. J.
;
Chugg A. M.
;
Harboe-Sorensen R.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
SRAM;
Single event effects (SEE);
single event latch-up (SEL);
single event upset (SEU);
test facilities;
66.
Total-dose worst-case test vectors for logic faults induced in combinational circuits of cell-based ASICs
机译:
基于单元的ASIC组合电路中引起的逻辑故障的总剂量最坏情况测试向量
作者:
Abou-Auf Ahmed A.
;
Abdel-Aziz Hamzah A.
;
Abdel-Aziz Mostafa M.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
CMOS;
logic faults;
test vectors;
total dose;
worst-case;
67.
Extensive SEU impact analysis of a PIC microprocessor for selective hardening
机译:
PIC微处理器的广泛SEU影响分析,用于选择性强化
作者:
Valderas Mario Garcia
;
Garcia Marta Portela
;
Lopez Celia
;
Entrena Luis
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
FPGA-emulation;
Fault Injection;
SEU;
68.
A new critical variable analysis in processor-based systems
机译:
基于处理器的系统中的新关键变量分析
作者:
Bergaoui S.
;
Vanhauwaert P.
;
Leveugle R.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
Dependability;
critical variables;
criticality analysis;
microprocessor-based systems;
69.
Session F: Terrestrial and radiation environments
机译:
分会F:地面和辐射环境
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
70.
Altitude and underground real-time SER tests of embedded SRAM
机译:
嵌入式SRAM的海拔高度和地下实时SER测试
作者:
Heijmen Tino
;
Verwijst Joop
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
Radiation effects;
realtime SER test;
soft-error rate (SER);
71.
ICARE on-board SAC-C: More than 8 years of SEU MCU, analysis and prediction
机译:
ICARE板载SAC-C:8年以上的SEU和MCU,分析和预测
作者:
Boatella C.
;
Hubert G.
;
Ecoffet R.
;
Duzellier S.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
MCU;
MUSCA SEPsup3/sup;
SAA;
SEU;
flight data;
geomagnetic cut-off;
multiplicity;
prediction;
space environment;
72.
Cosmic-ray heavy ions contributions to the atmospheric radiation field
机译:
宇宙射线重离子对大气辐射场的贡献
作者:
Lei Fan
;
Hands Alex
;
Truscott Pete
;
Dyer Clive
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
Atmospheric Radiation;
Cosmic-ray;
Heavy ions;
Monte Carlo modelling;
73.
Session G: Photonics
机译:
G场:光子学
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
74.
Gamma-radiation effects on the femto-second fiber Bragg gratings written in Ge-doped fibers
机译:
伽玛辐射对掺锗光纤中写入的飞秒光纤布拉格光栅的影响
作者:
Gusarov A.
;
Brichard B.
;
Nikogosyan David N.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
femtosecond UV laser;
fiber Bragg gratings;
ionizing radiation-induced Bragg wavelength shift;
optical fiber gamma-radiation effects;
75.
Influence of manufacturing parameters and temperature on the radiation sensitivity of fiber Bragg gratings
机译:
制造参数和温度对光纤布拉格光栅辐射敏感性的影响
作者:
Henschel Henning
;
Hoeffgen Stefan K.
;
Kuhnhenn Jochen
;
Weinand Udo
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
Fiber Bragg grating;
fiber tension;
gamma radiation;
grating temperature dependence;
hydrogen loading;
optical fiber sensor;
radiation effects;
recoating;
type I grating;
76.
Effects of low temperature proton irradiation on a large area CCD for astrometric applications
机译:
低温质子辐照对大面积CCD用于天文测量的影响
作者:
Hopkinson Gordon
;
Gare Philippe
;
Sarri Giuseppe
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
Image sensors;
proton radiation effects;
radiation effects;
satellite applications;
77.
Proton irradiation of InGaAs/InP and InGaAsP/InP Geiger-mode avalanche photodiodes
机译:
InGaAs / InP和InGaAsP / InP盖革模式雪崩光电二极管的质子辐照
作者:
Harris Richard D.
;
Farr William H.
;
Becker Heidi N.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
Geiger-mode;
avalanche photodiode;
optical communications;
proton irradiation;
78.
A simple method for optocouplers selection in the frame of space applications
机译:
在空间应用中选择光耦合器的简单方法
作者:
Peyre D.
;
Binois C.
;
Mendenhall M. H.
;
Weller R. A.
;
Mangeret R.
;
Salvaterra G.
;
Montay G.
;
Beutier T.
;
Beaumel M.
;
Sorensen R. Harboe
;
Poivey Ch.
会议名称:
《》
|
2009年
关键词:
CTR;
GEANT4;
NIEL;
Optocouplers;
minority carriers lifetime;
protons;
79.
Long-term exposure of fiber Bragg gratings in the BR1 low-flux nuclear reactor
机译:
BR1低通量核反应堆中光纤布拉格光栅的长期暴露
作者:
Gusarov A.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
fiber Bragg gratings;
optical fiber nuclear radiation effects;
radiation-induced Bragg wavelength shift;
80.
10 keV X-ray irradiation effects on phosphorus-doped fibers and preforms: Electron spin resonance and optical studies
机译:
10 keV X射线辐照对掺磷纤维和预成型坯的影响:电子自旋共振和光学研究
作者:
Origlio G.
;
Girard S.
;
Messina F.
;
Cannas M.
;
Boukenter A.
;
Boscaino R.
;
Ouerdane Y.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
EPR;
P-doping;
X-rays irradiation;
optical fibers;
radiation induced attenuation;
81.
Gamma radiation effects on CCTV cameras — An update
机译:
伽玛辐射对闭路电视摄像机的影响—更新
作者:
Sharp Richard E.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
CCTV;
gamma;
nuclear;
radiation effects;
82.
Session H: Dosimetry and facilities
机译:
分会H:剂量学和设施
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
83.
The DIME suite of dosimeters
机译:
DIME剂量计套件
作者:
McNulty Peter J.
;
Poole Kelvin F.
;
Fennell Michael
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
Dosimetry;
radiation effects;
radiation monitoring;
soft errors;
84.
A new approach in predicting the response of silicon p-i-n diodes used as radiation monitoring sensors up to very high fluences
机译:
预测用作辐射监测传感器的硅p-i-n二极管响应的新方法
作者:
Mekki J.
;
Moll M.
;
Fahrer M.
;
Glaser M.
;
Dusseau L.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
accelerators;
p-i-n diodes;
particle beams;
radiation damage;
radiation monitoring;
85.
Validation of Geant4-based dose computational tools with REEF experiments
机译:
使用REEF实验验证基于Geant4的剂量计算工具
作者:
Lei Fan
;
Rason Sam
;
Ford Karen
;
Morris Paul
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
Dosimetry;
Monte-Carlo simulation;
Radiation Shielding;
TLD RADFET;
86.
The radiation hardness assurance facility at INFN-LNS Catania for the irradiation of electronic components in air
机译:
INFN-LNS卡塔尼亚的辐射硬度保证设施,用于辐射空气中的电子组件
作者:
Menichelli Mauro
;
Alpat Behcet
;
Papi Andrea
;
Sorensen Reno Harboe
;
Cirrone Pablo
;
Ferrera Francesco
;
Figuera Pierpaolo
;
Finocchiaro Paolo
;
Lattauda Marcello
;
Rifuggiato Danilo
;
Bizzarri Fabrizio
;
Caraffini Diego
;
Petasecca Marco
;
Renzi Francesca
;
Denizli Haluk
;
Amuktan Ozge
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
dosimetry;
heavy ion accelerators;
radiation effects;
radiation tests;
87.
AGORFIRM, the AGOR facility for irradiations of materials
机译:
AGORFIRM,AGOR的材料辐照设施
作者:
van der Graaf Emiel R.
;
Ostendorf Reint W.
;
van Goethem Marc-Jan
;
Kiewiet Harry H.
;
Hofstee Mariet A.
;
Brandenburg S.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
sup12/supC;
Bragg peak irradiations;
Irradiation facility;
protons;
radiation hardness tests;
solar flare simulation tests;
88.
Session I: Technology and design hardening
机译:
第一节:技术和设计强化
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
89.
A commercial 65nm CMOS technology for space applications: Heavy ion, proton and gamma test results and modeling
机译:
用于太空应用的商业65nm CMOS技术:重离子,质子和伽马测试结果和建模
作者:
Roche Philippe
;
Gasiot Gilles
;
Uznanski Slawosz
;
Daveau Jean-Marc
;
Torras-Flaquer Josep
;
Clerc Sylvain
;
Harboe-Sorensen Reno
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
90.
High speed redundant self-correcting circuits for radiation hardened by design logic
机译:
高速冗余自校正电路,用于通过设计逻辑强化辐射
作者:
Hindman Nathan D.
;
Pettit David E.
;
Patterson Dan W.
;
Nielsen Kyle E.
;
Yao Xiaoyin
;
Holbert Keith E.
;
Clark Lawrence T.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
Radiation hardening by design;
microprocessor;
redundant systems;
registers;
91.
A 90 nm bulk CMOS radiation hardened by design cache memory
机译:
通过设计高速缓存存储器硬化的90 nm批量CMOS辐射
作者:
Yao Xiaoyin
;
Clark Lawrence T.
;
Patterson Dan W.
;
Holbert Keith E.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
CMOS memory integrated circuits;
Radiation hardening;
heavy ion beams;
high-speed integrated circuits;
92.
Evaluating the impact of DFM library optimizations on alpha-induced SEU sensitivity in a microprocessor core
机译:
评估DFM库优化对微处理器内核中α诱导的SEU灵敏度的影响
作者:
Rech Paolo
;
Paccagnella Alessandro
;
Grosso Michelangelo
;
Reorda Matteo Sonza
;
Melchiori Fabio
;
Appello Davide
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
Alpha Particles;
DFM;
Microprocessor;
Radiation Effect;
Standard Cells;
93.
A novel error correction technique for adjacent errors
机译:
一种针对相邻错误的新型错误校正技术
作者:
Argyrides C.
;
Reviriego P.
;
Pradhan D. K.
;
Maestro J. A.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
Fault-Tolerance;
Reliability;
Testing;
94.
Fault tolerant FIR filters using hamming codes
机译:
使用汉明码的容错FIR滤波器
作者:
Liu Shih-Fu
;
Reviriego Pedro
;
Maestro Juan Antonio
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
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2009年
关键词:
Digital filters;
Hamming codes;
Reliability;
Single Event Upset (SEU);
95.
The reliability and availability analysis of SEU mitigation techniques in SRAM-based FPGAs
机译:
基于SRAM的SEU缓解技术的可靠性和可用性分析
作者:
Wang Zhong-Ming
;
Ding Li-Li
;
Yao Zhi-Bin
;
Guo Hong-Xia
;
Zhou Hui
;
Lv Min
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
关键词:
FPGA;
SEU;
mitigation;
reliability;
96.
Non-TMR SEU-hardening techniques for SiGe HBT shift registers and clock buffers
机译:
用于SiGe HBT移位寄存器和时钟缓冲器的非TMR SEU加固技术
作者:
Wilcox Edward P.
;
Phillips Stanley D.
;
Cressler John D.
;
Marshall Paul W.
;
Carts Martin A.
;
Pellish Jonathan A.
;
Richmond Larry
;
Mathes William
;
Randall Barbara
;
Post Devon
;
Gilbert Barry
;
Daniel Erik
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
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2009年
关键词:
bit error rate testing;
gated feedback cell (GFC);
radiation hardening by design (RHBD);
silicon-germanium (SiGe);
single event upset (SEU);
97.
Selection of the optimal interleaving distance for memories suffering MCUs
机译:
为受MCU影响的存储器选择最佳交错距离
作者:
Reviriego Pedro
;
Maestro Juan Antonio
;
Baeg Sanghyeon
;
Wen ShiJie
;
Wong Richard
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
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2009年
关键词:
Interleaving distance;
MCU;
Memory;
Soft error;
98.
Transistor sizing and folding techniques for radiation hardening
机译:
晶体管尺寸调整和折叠技术可增强辐射强度
作者:
Kastensmidt F. Lima
;
Assis T.
;
Ribeiro I.
;
Wirth G.
;
Brusamarello L.
;
Reis R.
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
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2009年
关键词:
SET;
fault tolerance;
microelectronics;
radiation effects;
radiation hardening;
transistor folding;
99.
Fast SER evaluation of embedded RAMs in fault emulation systems
机译:
故障仿真系统中嵌入式RAM的快速SER评估
作者:
Portela-Garcia Marta
;
Lopez-Ongil Celia
;
Garcia-Valderas Mario
;
Millan Enrique San
;
Entrena Luis
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
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2009年
关键词:
Cosmic radiation;
bit-flip;
embedded RAMs;
hardware emulation;
transient fault injection;
100.
Session D: Basic mechanisms
机译:
D场:基本机制
会议名称:
《2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems》
|
2009年
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