Mitigating bit flips or single event upsets in epilepsy neurostimulators

机译：缓解癫痫神经刺激器的位翻转或单事件不适

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ObjectivesThe objective of this study was to review software errors known as single event upsets (SEUs) or bit flips due to cosmic rays in epilepsy neurostimulators.

机译：目的本研究的目的是回顾癫痫神经刺激器中由于宇宙射线引起的称为单事件翻转（SEU）或位翻转的软件错误。

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期刊名称 Epilepsy Behavior Case Reports
作者
Alice X. Dong; Ryder P. Gwinn; Nicole M. Warner; Lisa M. Caylor; Michael J. Doherty;
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作者单位

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年(卷),期 2016(5),-1
年度 2016
页码 72–74
总页数 3
原文格式 PDF
正文语种
中图分类医学行为学;
关键词
Neurostimulation Epilepsy Software Cosmic Neutron Safety;

机译：神经刺激;癫痫;软件;宇宙;中子;安全;
入库时间 2022-08-17 12:13:24

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1. Mitigating bit flips or single event upsets in epilepsy neurostimulators [J] . Alice X. Dong, Ryder P. Gwinn, Nicole M. Warner, Epilepsy & Behavior Case Reports . 2016,第1期

机译：缓解癫痫神经刺激器中的位翻转或单事件不适
2. Single Event Upset and Multiple Cell Upset Modeling in Commercial Bulk 65-nm CMOS SRAMs and Flip-Flops [J] . Uznanski S., Gasiot G., Roche P., Nuclear Science, IEEE Transactions on . 2010,第4期

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Mitigating bit flips or single event upsets in epilepsy neurostimulators

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