机译:45纳米沟道长度常规MOSFET器件中随机电报噪声的静态分析:阈值电压和导通电流波动
Arizona State University, Tempe, AZ, USA;
Monte Carlo device simulations; random dopant fluctuations; random telegraph noise fluctuations; short-range Coulomb interactions;
机译:存在随机陷阱和随机掺杂的45nm沟道长度MOSFET器件阈值电压波动估计的精确模型
机译:1 / f噪声:由于随机陷阱带电,45 nm器件技术中的阈值电压和导通电流波动
机译:35 nm沟道长度MOSFET的随机掺杂引起的阈值电压波动的统计模拟
机译:随机电报噪声的阈值电压和电流电流和阈值电压波动的建模波动
机译:45 nm栅极长度n-MOSFET陷阱引起的阈值电压波动仿真的比较分析和分析模型预测。
机译:拟议的双边沿触发静态D型触发器中的MOSFET沟道宽度和电源电压的多目标优化采用模糊非支配排序遗传算法II
机译:利用外延和三角形掺杂通道抑制0.1-0μm以下mOsFET中的随机掺杂剂引起的阈值电压波动
机译:50 nm外延通道mOsFET中的随机掺杂阈值电压波动:3D'原子'模拟研究