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机译:使用Epsilon-Near-Zero(ENZ)隧道结构在微波频率下的介电常数测量
Emerging Microwave Technologies Group (EMT), Instituto Nacional de Astrofísica, Óptica y Electrónica (INAOE), Tonantzintla, Puebla, México;
Cavity perturbation methods; epsilon-near-zero (ENZ); permittivity measurements; substrate integrated waveguide (SIW);
机译:电磁波通过Epsilon-Near-Zero零材料在微波频率下的实验演示
机译:微波频率下微波吸收材料介电常数的精确测量
机译:微波频率下的频域复介电常数测量
机译:微波材料表征使用epsilon附近零(enz)隧道结构
机译:微波和太赫兹频率下薄膜的介电常数测量。
机译:通过超宽带去除寄生反射器进行微波成像的精确介电常数测量
机译:微波频率下浮区硅的介电常数,介电损耗角正切和电阻率的测量
机译:用波导测量法估算复合多层材料在微波频率下的复介电常数