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机译:单层互连的单层互连BIST和诊断溶液,用于单片3-D ICS
Duke Univ Dept Elect & Comp Engn Durham NC 27705 USA;
Duke Univ Dept Elect & Comp Engn Durham NC 27705 USA;
Registers; Built-in self-test; Through-silicon vias; Three-dimensional displays; Silicon; Pins; Built-in-self-test (BIST); design-for-test; diagnosis; testing;
机译:高性能单片器件和无源器件的3D多层铜互连
机译:考虑层间耦合的异沟道单片3-D SRAM单元的稳定性和性能优化
机译:基于中介层的3-D IC的互连缺陷诊断分辨率和良率的提高
机译:单片3D IC的层间互连BIST解决方案
机译:FPGA中互连故障位置的BIST诊断。
机译:单片1×8 DWDM硅光学发射器使用阵列 - 波导光栅和用于数据库内互连的开关织物的电吸收调制器
机译:3-D多层铜互连,用于高性能单片装置和无源
机译:用于智能像素开关,自由空间互连和光存储器应用的集成双稳增益淬火垂直腔/面内激光器