要解决的问题:提供一种形成层间绝缘膜的方法,该层间绝缘膜具有优异的机械强度并且具有低介电常数。
解决方案:在通过等离子体CVD形成层间绝缘膜的方法中,有机硅氧烷化合物包括一个或多个硅原子,每个硅原子包含至少三个由通式-O-Si(R 版权:(C)2007,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2007005572A
专利类型
公开/公告日2007-01-11
原文格式PDF
申请/专利权人 MATSUSHITA ELECTRIC IND CO LTD;
申请/专利号JP20050184247
发明设计人 AOI NOBUO;
申请日2005-06-24
分类号H01L21/312;C23C16/42;H01L21/316;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 21:14:52