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IEEE VLSI Test Symposium
IEEE VLSI Test Symposium
召开年:
2018
召开地:
San Francisco(US)
出版时间:
-
会议文集:
-
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1.
Group delay measurement of frequency down-converter devices using chirped RF modulated signal
机译:
使用线性调频射频调制信号对下变频设备进行群时延测量
作者:
Peter Sarson
;
Tomonori Yanagida
;
Kosuke Machida
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Radio frequency;
Chirp;
Frequency modulation;
Delays;
Time-frequency analysis;
Bandwidth;
2.
A coherent subsampling test system arrangement suitable for phase domain measurements
机译:
适用于相域测量的相干二次采样测试系统装置
作者:
Young Gouk Cho
;
Gordon W. Roberts
;
Sadok Aouini
;
Mahdi Parvizi
;
Naim Ben-Hamida
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Noise measurement;
Bandwidth;
Phase measurement;
Frequency measurement;
Phase locked loops;
Synchronization;
Clocks;
3.
An oscillation-based test technique for on-chip testing of mm-wave phase shifters
机译:
基于振荡的毫米波移相器芯片测试技术
作者:
M. Margalef-Rovira
;
M. J. Barragan
;
E. Sharma
;
P. Ferrari
;
E. Pistono
;
S. Bourdel
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Phase shifters;
Phased arrays;
Oscillators;
Varactors;
Built-in self-test;
4.
Special session: Recent developments in hardware security
机译:
特别会议:硬件安全性的最新发展
作者:
Ro Commarota
;
Naghmeh Karimi
;
Siddharth Garg
;
Jeyavijayan Rajendran
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Hardware;
Cryptography;
Aging;
Neural networks;
Training;
Very large scale integration;
5.
Innovative practices on memory test practice
机译:
内存测试实践的创新实践
作者:
M. Casarsa
;
G. Harutyunyan
;
Kaitlyn Chen
;
Ramesh Sharma
;
Giri Podichetty
;
Martin Keim
;
Sreejit Chakravarthy
;
Ramesh Tekumalla
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Safety;
Built-in self-test;
Maintenance engineering;
Random access memory;
Automotive engineering;
Memory management;
IP networks;
6.
ATPG-based cost-effective, secure logic locking
机译:
基于ATPG的经济高效的安全逻辑锁定
作者:
Abhrajit Sengupta
;
Mohammed Nabeel
;
Muhammad Yasin
;
Ozgur Sinanoglu
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Security;
Circuit faults;
Power capacitors;
Timing;
Hardware;
Resilience;
Integrated circuits;
7.
Modeling and test generation for combinational hardware Trojans
机译:
组合硬件木马的建模和测试生成
作者:
Ziqi Zhou
;
Ujjwal Guin
;
Vishwani D. Agrawal
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Trojan horses;
Hardware;
Integrated circuit modeling;
Payloads;
Circuit faults;
Manufacturing;
Logic gates;
8.
Modeling attacks on strong physical unclonable functions strengthened by random number and weak PUF
机译:
通过随机数和弱PUF增强对强大的物理不可克隆功能的攻击的建模
作者:
Jing Ye
;
Qingli Guo
;
Yu Hu
;
Huawei Li
;
Xiaowei Li
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Reliability;
Delays;
Heuristic algorithms;
Training;
Field programmable gate arrays;
Security;
Graphics processing units;
9.
Special session: How approximate computing impacts verification, test and reliability
机译:
特别会议:近似计算如何影响验证,测试和可靠性
作者:
L. Sekanina
;
Z. Vasicek
;
A. Bosio
;
M. Traiola
;
P. Rech
;
D. Oliveria
;
F. Fernandes
;
S. Di Carlo
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Hardware;
Approximate computing;
Circuit faults;
Loss measurement;
Error analysis;
Redundancy;
10.
Innovative practices on quality levels of A/MS devices
机译:
A / MS设备质量水平的创新做法
作者:
Wim Dobbelaere
;
On Semi
;
Massimo Violante
;
Turin Polytechnic
;
Jeff Rearick
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Circuit faults;
Automotive engineering;
Hardware;
Inspection;
Standards;
Proposals;
Visualization;
11.
Hardware Trojan attacks in embedded memory
机译:
嵌入式内存中的硬件Trojan攻击
作者:
Tamzidul Hoque
;
Xinmu Wang
;
Abhishek Basak
;
Robert Karam
;
Swarup Bhunia
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Trojan horses;
Random access memory;
Circuit faults;
Testing;
Integrated circuits;
Arrays;
Hardware;
12.
High efficient low cost EEPROM screening method in combination with an area optimized byte replacement strategy which enables high reliability EEPROMs
机译:
高效,低成本的EEPROM筛选方法,结合区域优化的字节替换策略,可实现高可靠性的EEPROM
作者:
Gregor Schatzberger
;
Friedrich Peter Leisenberger
;
Peter Sarson
;
Andreas Wiesner
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
EPROM;
Standards;
Error correction codes;
High-voltage techniques;
Current measurement;
Generators;
Prediction algorithms;
13.
Test challenges and solutions for emerging non-volatile memories
机译:
测试新兴非易失性存储器的挑战和解决方案
作者:
Mohammad Nasim Imtiaz Khan
;
Swaroop Ghosh
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Nonvolatile memory;
Random access memory;
Clocks;
Magnetic tunneling;
Magnetic susceptibility;
Resistance;
Ferroelectric films;
14.
IP session on ISO26262 EDA
机译:
关于ISO26262 EDA的IP会议
作者:
Art Schaldenbrand
;
Yervant Zorian
;
Stephen Sunter
;
Peter Sarson
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Circuit faults;
Semiconductor device measurement;
Safety;
ISO Standards;
IP networks;
Very large scale integration;
15.
An inter-layer interconnect BIST solution for monolithic 3D ICs
机译:
单片3D IC的层间互连BIST解决方案
作者:
Abhishek Koneru
;
Krishnendu Chakrabarty
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Registers;
Through-silicon vias;
Three-dimensional displays;
Integrated circuit interconnections;
Built-in self-test;
16.
A built-in self-test technique for transmitter-only systems
机译:
仅限发射机系统的内置自检技术
作者:
Maryam Shafiee
;
Jennifer N. Kitchen
;
Sule Ozev
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Built-in self-test;
Transmitters;
Radio frequency;
Baseband;
Mixers;
Calibration;
Integrated circuit modeling;
17.
Exploiting built-in delay lines for applying launch-on-capture at-speed testing on self-timed circuits
机译:
利用内置的延迟线在自定时电路上进行捕获时启动的快速测试
作者:
Omar Al-Terkawi Hasib
;
Daniel Crépeau
;
Thomas Awad
;
Andrei Dulipovici
;
Yvon Savaria
;
Claude Thibeault
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Delays;
Testing;
Clocks;
Delay lines;
Asynchronous circuits;
Registers;
18.
Innovative practices on functional testing and fault simulation for FuSa
机译:
FuSa功能测试和故障仿真的创新实践
作者:
Anandh Krishnan
;
John van Gelder
;
Mayukh Bhattacharya
;
Sreejit Chakravarty
;
Prashant Goteti
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Automotive engineering;
Testing;
Safety;
Acceleration;
Tools;
Computational modeling;
IP networks;
19.
Broadcast-based minimization of the overall access time for the IEEE 1687 network
机译:
基于广播的IEEE 1687网络总访问时间的最小化
作者:
Zhanwei Zhong
;
Guoliang Li
;
Qinfu Yang
;
Jun Qian
;
Krishnendu Chakrabarty
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Instruments;
Task analysis;
Open area test sites;
Registers;
Architecture;
Optimization;
20.
Efficient parallel testing: A configurable and scalable broadcast network design using IJTAG
机译:
高效的并行测试:使用IJTAG的可配置和可扩展的广播网络设计
作者:
Saurabh Gupta
;
Jae Wu
;
Jennifer Dworak
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Instruments;
Network architecture;
IEEE Standards;
Registers;
Testing;
System-on-chip;
21.
Securing IJTAG against data-integrity attacks
机译:
保护IJTAG免受数据完整性攻击
作者:
Rana Elnaggar
;
Ramesh Karri
;
Krishnendu Chakrabarty
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Instruments;
Registers;
IEEE Standards;
IP networks;
Benchmark testing;
Encryption;
22.
Innovative practices on test in Japan
机译:
日本的考试创新做法
作者:
Koji Asami
;
Yoshiro Tamura
;
Haruo Kobayashi
;
Jun Matsushima
;
Yoichi Maeda
;
Kazumi Hatayama
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Automotive engineering;
Safety;
Transforms;
Wireless communication;
Power demand;
Very large scale integration;
IP networks;
23.
Efficient generation of parametric test conditions for AMS chips with an interval constraint solver
机译:
带有间隔约束求解器的AMS芯片的参数测试条件的高效生成
作者:
Felix Neubauer
;
Jan Burchard
;
Pascal Raiola
;
Jochen Rivoir
;
Bernd Becker
;
Matthias Sauer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Encoding;
Task analysis;
Integrated circuit modeling;
Analytical models;
Optimization;
Very large scale integration;
Europe;
24.
Enhanced hotspot detection through synthetic pattern generation and design of experiments
机译:
通过合成模式生成和实验设计增强了热点检测
作者:
Gaurav Rajavendra Reddy
;
Constantinos Xanthopoulos
;
Yiorgos Makris
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Databases;
Feature extraction;
Foundries;
Machine learning;
Layout;
Lithography;
Training;
25.
Staggered ATPG with capture-per-cycle observation test points
机译:
交错式ATPG,具有每个周期捕获的观察测试点
作者:
Yingdi Liu
;
Janusz Rajski
;
Sudhakar M. Reddy
;
Jędrzej Solecki
;
Jerzy Tyszer
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Clocks;
Circuit faults;
Merging;
Compaction;
Computer architecture;
Flip-flops;
Test pattern generators;
26.
Innovative practices on silicon photonics
机译:
硅光子学的创新实践
作者:
Roy Meade
;
Woosung Kim
;
Richard Otte
;
Eugene Atwood
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Photonics;
Silicon;
Manufacturing;
Machine learning;
Testing;
Integrated optics;
Optical devices;
27.
Systematic b-adjacent symbol error correcting reed-solomon codes with parallel decoding
机译:
具有并行解码的系统性b相邻符号纠错里德所罗门码
作者:
Abhishek Das
;
Nur A. Touba
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Decoding;
Parity check codes;
Reed-Solomon codes;
Complexity theory;
Systematics;
Redundancy;
28.
Circuit-level reliability simulator for front-end-of-line and middle-of-line time-dependent dielectric breakdown in FinFET technology
机译:
FinFET技术中用于线路前端和线路中间时间相关电介质击穿的电路级可靠性模拟器
作者:
Kexin Yang
;
Taizhi Liu
;
Rui Zhang
;
Linda Milor
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Feature extraction;
Standards;
Logic gates;
Layout;
FinFETs;
Pins;
Reliability;
29.
On-line monitoring and error correction in sensor interface circuits using digital calibration techniques
机译:
使用数字校准技术对传感器接口电路进行在线监控和错误校正
作者:
Sascha Heinssen
;
Theodor Hillebrand
;
Maike Taddiken
;
Steffen Paul
;
Dagmar Peters-Drolshagen
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Clocks;
Capacitance;
Temperature dependence;
Gain;
Error correction;
Capacitive sensors;
Monitoring;
30.
Innovative practices on machine learning for emerging applications
机译:
新兴应用的机器学习创新实践
作者:
Kareem Madkour
;
Zhaobo Zhang
;
Alfred L. Crouch
;
Peter L. Levin
;
Eve Hunter
;
Yu Huang
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Trojan horses;
Machine learning;
Monitoring;
Hardware;
Training;
Data collection;
Business;
31.
IC layout weak point effectiveness evaluation based on statistical methods
机译:
基于统计方法的集成电路布图弱点有效性评估
作者:
Fang Lin
;
Ali Ahmadi
;
Kannan Sekar
;
Yan Pan
;
Ke Huang
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Layout;
Silicon;
Measurement;
Integrated circuit modeling;
Systematics;
Manufacturing processes;
32.
Analyzing and mitigating the impact of permanent faults on a systolic array based neural network accelerator
机译:
分析和减轻永久性故障对基于脉动阵列的神经网络加速器的影响
作者:
Jeff Jun Zhang
;
Tianyu Gu
;
Kanad Basu
;
Siddharth Garg
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Circuit faults;
Fault tolerance;
Fault tolerant systems;
Tensile stress;
Neural networks;
Computer architecture;
Google;
33.
IR drop prediction of ECO-revised circuits using machine learning
机译:
使用机器学习预测ECO修订电路的IR降
作者:
Shih-Yao Lin
;
Yen-Chun Fang
;
Yu-Ching Li
;
Yu-Cheng Liu
;
Tsung-Shan Yang
;
Shang-Chien Lin
;
Chien-Mo Li
;
Eric Jia-Wei Fang
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Machine learning;
Integrated circuit modeling;
Predictive models;
Feature extraction;
Artificial neural networks;
Timing;
Graphics processing units;
34.
Innovative practices on challenges, opportunities, and solutions to hardware security
机译:
关于硬件安全的挑战,机遇和解决方案的创新做法
作者:
Sohrab Aftabjahani
;
Jason Oberg
;
Michael Chen
;
Huawei Li
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Security;
Hardware;
Industries;
IP networks;
Tools;
Digital systems;
35.
Fast fault coverage estimation of sequential tests using entropy measurements
机译:
使用熵测量快速估计顺序测试的故障范围
作者:
Michael S. Hsiao
;
Sarmad Tanwir
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Circuit faults;
Integrated circuit modeling;
Computational modeling;
Entropy;
Linear regression;
Benchmark testing;
Predictive models;
36.
Real-time monitoring of test fallout data to quickly identify tester and yield issues in a multi-site environment
机译:
实时监控测试结果数据,以在多站点环境中快速识别测试人员并产生问题
作者:
Qutaiba Khasawneh
;
Jennifer Dworak
;
Ping Gui
;
Benjamin Williams
;
Alan C. Elliott
;
Anand Muthaiah
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Testing;
Semiconductor device measurement;
Production;
Standards;
Hardware;
Real-time systems;
Monitoring;
37.
Online information utility assessment for per-device adaptive test flow
机译:
针对每个设备的自适应测试流程的在线信息实用程序评估
作者:
Yanjun Li
;
Ender Yilmaz
;
Peter Sarson
;
Sule Ozev
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Mutual information;
Mathematical model;
Correlation;
Adaptation models;
Training data;
Computational modeling;
Measurement;
38.
NOIDA: Noise-resistant Intra-cell Diagnosis
机译:
NOIDA:抗噪声细胞内诊断
作者:
Soumya Mittal
;
R. D. Shawn Blanton
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Circuit faults;
Integrated circuit modeling;
Failure analysis;
Integrated circuit interconnections;
Layout;
SPICE;
Object recognition;
39.
Multi-faceted microarchitecture level reliability characterization for NVIDIA and AMD GPUs
机译:
NVIDIA和AMD GPU的多方面微体系结构级别可靠性表征
作者:
Alessandro Vallero
;
Sotiris Tselonis
;
Dimitris Gizopoulos
;
Stefano Di Carlo
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Reliability;
Graphics processing units;
Registers;
Hardware;
Computer architecture;
Benchmark testing;
Clocks;
40.
RF circuit authentication for detection of process Trojans
机译:
射频电路认证,用于检测进程木马
作者:
Fatih Karabacak
;
Richard Welker
;
Matthew J. Casto
;
Jennifer N. Kitchen
;
Sule Ozev
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Integrated circuit modeling;
Foundries;
Authentication;
Trojan horses;
Radio frequency;
Manufacturing;
41.
Innovative practices on design test for flexible hybrid electronics
机译:
柔性混合电子产品设计与测试的创新实践
作者:
Tsung-Ching Jim Huang
;
Jason Marsh
;
Scott H. Goodwin
;
Dorota S. Temple
;
Tsung-Ching Jim Huang
会议名称:
《IEEE VLSI Test Symposium》
|
2018年
关键词:
Process design;
Integrated circuit modeling;
Wearable sensors;
Internet of Things;
Design automation;
Tools;
Layout;
意见反馈
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