机译:基于泄漏电流的CMOS IC测试
CMOS integrated circuits; data analysis; integrated circuit testing; leakage currents; statistical analysis; CMOS IC testing; leakage current test; pass/fail criteria; semiconductor technology; statistical data analysis; yield loss;
机译:SOI CMOS IC中的泄漏电流综述:对参数测试技术的影响
机译:当前测试中对未来CMOS电路的泄漏和工艺变化影响
机译:使用泄漏控制技术对低压CMOS电路进行有效的IDDQ测试
机译:CMOS电路中IDDQ测试和泄漏故障检测的测试生成
机译:一种新颖的动态功率截止技术(DPCT),用于降低深亚微米VLSI CMOS电路中的有源泄漏。
机译:接触塞沉积条件对多级CMOS逻辑互连器件中结漏电流和接触电阻的影响
机译:深亚微米CmOs电路中的漏电流机制和泄漏减少技术
机译:CmOs(互补金属氧化物半导体)中VLsI(超大规模集成)漏电故障的可测试性