首页> 外文会议>21st annual conference of the Australian Computer-Human Interaction Special Interest Group 2009 >Test generation for IDDQ testing and leakage fault detection in CMOS circuits

【24h】

Test generation for IDDQ testing and leakage fault detection in CMOS circuits

机译：CMOS电路中IDDQ测试和泄漏故障检测的测试生成

获取原文

页面导航

著录项
相似文献
相关主题

著录项

来源
《21st annual conference of the Australian Computer-Human Interaction Special Interest Group 2009》|2009年|P.486-491|共6页
会议地点
作者
Udo Mahlstedt; Matthias Heinitz; Jurgen Alt;
展开▼
作者单位

展开▼
会议组织
原文格式 PDF
正文语种
中图分类计算机网络;人工智能理论;
关键词

相似文献

外文文献
中文文献
专利

1. Design and test rules for CMOS circuits to facilitate IDDQ testing of bridging faults [J] . Lee K.-J., Breuer M.A. IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems . 1992,第5期

机译：CMOS电路的设计和测试规则，以方便IDDQ测试桥接故障
2. Iddq testing-based diagnosis of faults in CMOS-circuits [J] . Yu. V. Bykov, A. A. Ivanyuk, A. I. Yanushkevich, Automation and Remote Control . 1999,第7aPta2期

机译：基于Iddq测试的CMOS电路故障诊断
3. On effective IDDQ testing of low-voltage CMOS circuitsusing leakage control techniques [J] . Zhanping Chen, Liqiong Wei, Roy K. IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems . 2001,第5期

机译：使用泄漏控制技术对低压CMOS电路进行有效的IDDQ测试
4. Test generation for I/sub DDQ/ testing and leakage fault detection in CMOS circuits [C] . Mahlstedt, U., Heinitz, . 1992

机译：用于I / sub DDQ /测试的测试生成以及CMOS电路中的泄漏故障检测
5. Test generation and evaluation for bridging faults in CMOS VLSI circuits. [D] . Lee, Terry Ping-Chung. 1995

机译：测试生成和评估CMOS VLSI电路中的桥接故障。
6. Test Generation Algorithm for Fault Detection of Analog Circuits Based on Extreme Learning Machine [O] . Jingyu Zhou, Shulin Tian, Chenglin Yang, 2014

机译：基于极限学习机的模拟电路故障检测测试生成算法
7. Test Generation for Current Testing of Bridging Faults in CMOS VLSI Circuits [O] . Terry Lee, Ibrahim N. Hajj 1996

机译：CmOs VLsI电路中桥接故障电流测试的测试生成

获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

客服微信
服务号