机译:堆叠式裸片CSP:超出芯片尺寸
Theodore (Ted) Tessier is VP of advanced applications development at Amkor Technology Inc.;
机译:包装材料对低介电常数键合堆叠倒装芯片Csp可靠性测试的影响
机译:堆叠式CHIP防潮包装(S-CSP)封装过程中环氧模塑化合物(EMC)流变学影响的研究
机译:堆叠式芯片秤封装(S-CSP)中的流动可视化研究
机译:叠层芯片CSP(芯片级封装)中线渗透膜的应用和特性
机译:堆叠的CSP组件的组装,可靠性和返工
机译:添加剂对微流体芯片合成的HKUST-1晶体生长的影响浓度梯度
机译:CSP(芯片尺寸包)。 Flipchip安装LGA型CSP。
机译:通过加速热和机械循环测试,具有各种chiip尺寸的Csp的装配可靠性