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Stacked die CSPs: Beyond chip size

机译:堆叠式裸片CSP:超出芯片尺寸

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摘要

Silicon efficiency is the ratio of the total area of ICs to the package area required to house them. The emergence of high-volume stacked die packaging applications began with thin small outline packages (TSOPs) and quad flat packages (QFPs) in the mid-1990s. By incorporating more than one die in these leadframe packages, significant improvements in silicon efficiency were achieved, approaching 100 percent.
机译:硅效率是IC总面积与容纳它们所需的封装面积之比。大批量堆叠式芯片封装应用的出现始于1990年代中期的薄型小外形封装(TSOP)和方形扁平封装(QFP)。通过在这些引线框架封装中集成多个裸片,可以显着提高硅效率,接近100%。

著录项

  • 来源
    《Electronic News》 |2002年第4期|p.21-21|共1页
  • 作者

    Theodore Tessier;

  • 作者单位

    Theodore (Ted) Tessier is VP of advanced applications development at Amkor Technology Inc.;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
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