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机译:短沟道MOSFET阈值电压对衬底偏置的依赖性-一种新方法
机译:从依赖于衬底偏置的亚阈值斜率提取短沟道MOSFET接口陷阱密度的新方法
机译:短沟道全耗尽型凹陷源极/漏极(Re-S / D)UTB SOI MOSFET的阈值电压模型,包括衬底引起的表面电势效应
机译:硅锗(SiGe)衬底上带有应变硅(s-Si)沟道的短沟道双材料栅极(DMG)MOSFET阈值电压的分析模型
机译:利用背栅衬底引起的表面效应对长沟道和短沟道全耗尽SOI MOSFET的阈值电压进行建模
机译:DG MOSFET接近阈值IV特性的非GCA建模
机译:时间动力在进近偏向中的潜在作用:酒精进近避免任务中一般进近偏倚的延迟依赖性
机译:一种从基板偏压依赖性亚阈值中提取在短通道MOSFET中的接口陷阱密度的新方法