机译:在硬开关和软开关应用中模拟IGBT的关断
机译:本地寿命控制IGBT结构在1200V沟槽与新型平面PT-IGBT之间进行硬和软切换时的关断性能比较
机译:硬开关和软开关条件下高阻断电压IGBT和IEGT的特性和比较
机译:1200 V穿通IGBT结构的系统硬,软开关性能评估
机译:在硬开关和软开关应用中模拟IGBT关断
机译:IGBT的物理建模及其在智能功率IC设计中的应用。
机译:基于新型Volterra k最近邻最优修剪极限学习机(VKOPP)模型的绝缘栅双极晶体管(IGBT)剩余寿命估算
机译:IGBT模型验证软切换应用
机译:用于脉冲功率应用的mOsFET和IGBTs的评估