机译:高温下硅中电子碰撞电离系数的测量和建模
Electrostatic Discharge (ESD) Events; High-Temperature Device Characterization; Impact-Ionization; Non-Equilibrium Auger Effect; Predictive TCAD Tools;
机译:4H-SiC中电子和空穴的碰撞电离系数的测量
机译:将冲击电离倍增系数测量扩展到高级Si BJT的高电场
机译:用于验证RELAP5-3D RBMK-1500反应堆模型的孔隙度,快速功率和石墨温度反应系数的建模
机译:大工作温度下电子碰撞电离系数的实验提取
机译:碳化硅中碰撞电离系数的测量。
机译:在结构方程模型中忽略路径系数的测量不变性的后果
机译:用于X射线光电离宇宙等离子体建模的低温双电子复合速率系数的离子存储环测量
机译:用于建模X射线光电离宇宙等离子体的低温双电子复合率系数的离子存储环测量