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机译:25nm双栅极CMOS器件和电路的泄漏功率分析
Double-gate (DG) device; Drain-induced barrier lowering (DIBL); Latch; Leakage power;
机译:基于仿真的超大规模双栅极CMOS器件和电路的预览
机译:CMOS时序电路的泄漏功率降低和分析
机译:P-V-T波动下动态双V_t CMOS电路的漏电流,有功功率和延迟分析
机译:双栅器件降低纳米CMOS电路泄漏功率
机译:对绝缘体上硅CMOS器件和电路(包括双栅MOSFET)的基于过程的紧凑建模和分析。
机译:随机纳米氮化钛晶粒引起的动态功率延迟的特性波动以及全能门纳米线CMOS器件和电路的纵横比效应
机译:3.3双栅极器件的纳米级CmOs电路漏电功率降低
机译:在恶劣环境中的双栅sOI / mOs器件和电路