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A Study of Gate-Sensing and Channel-Sensing (GSCS) Transient Analysis Method Part II: Study of the Intra-Nitride Behaviors and Reliability of SONOS-Type Devices

机译:栅极感应和通道感应(GSCS)瞬态分析方法的研究第二部分:SONOS型器件的氮化物内行为和可靠性研究

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摘要

For the first time, we can directly investigate the charge transport and intra-nitride behaviors of SONOS-type devices by exploiting the gate-sensing and channel-sensing (GSCS) method. Our results clearly indicate that for electron injection (
机译:首次,我们可以通过利用栅极感应和通道感应(GSCS)方法直接研究SONOS型器件的电荷传输和氮化物内部行为。我们的结果清楚地表明,对于电子注入(

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