机译:多晶硅等离子体工艺中低温多晶硅薄膜晶体管的电降解和恢复
Department of Engineering and System Science, National Tsing Hua University, Hsinchu, Taiwan;
Grain-boundary trap state; low-temperature polycrystalline silicon (poly-Si) thin-film transistors (LTPS TFTs); negative-bias temperature instability (NBTI); plasma-process-induced damage (PPID);
机译:具有各种金属栅极图案的低温多晶硅薄膜晶体管的电降解和恢复
机译:不同晶粒度的p型低温多晶硅薄膜晶体管的负偏置温度不稳定性退化分析
机译:动态漏极应力下低温多晶硅薄膜晶体管的退化机理分析
机译:具有铝源极和漏极区的低温处理多晶硅薄膜晶体管
机译:金属诱导的单晶结晶多晶硅薄膜晶体管技术及其在平板显示器上的应用。
机译:使用H2烧结改善低温多晶硅薄膜晶体管传感器的pH敏感性
机译:应力诱导的低温多晶硅薄膜晶体管的宽度依赖性退化