机译:Cu掺杂在Si-TE的硫属化物玻璃和薄膜中的影响:电气开关,形态和拉曼研究
BMS Coll Engn Bengaluru 560019 India;
Indian Inst Sci Bengaluru 560012 India;
BMS Inst Technol Bengaluru 560064 India;
Indian Inst Sci Bengaluru 560012 India;
BMS Coll Engn Bengaluru 560019 India;
Chalcogenide glasses; electrical switching; intermediate phase (IP);
机译:用拉曼光谱分析电子束对玻璃硫属化物GeTe薄膜电开关性能的影响
机译:N型钴掺杂CuO薄膜的喷雾沉积:钴掺杂对结构,形态,电气和光学性质的影响
机译:由溶胶 - 凝胶旋转涂层技术沉积1%Cu掺杂TiO2多层纳米结构薄膜的结构,形态,光学和电性能
机译:相变存储器(PCM)应用的某些碲基硫属化物薄膜电切换行为的对比研究
机译:纯净和镍取代的YBA(2)Cu(3)o(7-Δ)薄膜的载体掺杂研究
机译:固溶氧化锌薄膜的形貌对薄膜晶体管电学特性的影响
机译:Ge-Te-Tl硫族化物玻璃的电开关研究:on对开关电压的成分依赖性的影响
机译:Cu TCNQ薄膜电转换机理的拉曼研究