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机译:SiO2钝化层对非晶Ingazno薄膜晶体管中的移动增强的物理见解
Natl Univ Singapore Dept Elect & Comp Engn Singapore 117583 Singapore;
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Natl Univ Singapore Dept Elect & Comp Engn Singapore 117583 Singapore;
Amorphous InGaZnO (a-IGZO) thin-film transistor (TFT); interface engineering; passivation layer (PVL); technology computer-aided design (TCAD);
机译:钝化层对非晶InGaZnO薄膜晶体管正栅极偏置-应力稳定性的影响
机译:用原子层沉积Al2O3钝化在200摄氏度下使用二甲基铝沉积Al2O3钝化的偏置应力和湿度暴露
机译:氢化二甲基铝用于非晶InGaZnO薄膜晶体管的Al_2O_3钝化原子层沉积
机译:具有硅氧烷钝化层的底栅非晶InGaZnO薄膜晶体管的可靠性
机译:用于有源矩阵液晶显示器的非晶硅薄膜晶体管的等离子体增强化学气相沉积问题
机译:钝化层对非晶InGaZnO薄膜晶体管正栅极偏置-应力稳定性的影响
机译:在具有各种有源层厚度的无定形Ingazno薄膜晶体管中探索光吞蓄电流和光突出的负偏置不稳定性