机译:单阱随机电报噪声对异质结TFET SRAM稳定性的影响
Heterojunction TFET; SRAM; TCAD simulation; electrical noise; random telegraph noise (RTN); trap;
机译:用于FinFET,Si / Ge纳米线FET,隧道FET,SRAM和逻辑电路的单阱感应随机电报噪声
机译:单个电荷陷阱或随机接口陷阱在全栅硅纳米线MOSFET中产生的随机电报噪声
机译:碳浓度对SiGe:C异质结双极晶体管中的1 / f噪声和随机电报信号噪声的影响
机译:单阱诱发的随机电报噪声对finfet器件和SRAM单元稳定性的影响
机译:MOS晶体管中随机电报信号和逆频率噪声
机译:纳米级晶体管中的异常随机电报噪声作为氧化物陷阱的两个亚稳态的直接证据
机译:随机电报噪声的表征及其对无放大器sRam可靠性的影响