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机译:PMOSFET中漏极线性电流扭转效应分析
Korea Univ Sch Elect Engn Seoul 02841 South Korea;
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SK Hynix Inc DRAM Dev Device Incheon 17336 South Korea;
SK Hynix Inc DRAM Dev Device Incheon 17336 South Korea;
Korea Univ Sch Elect Engn Seoul 02841 South Korea;
Stress; Degradation; Logic gates; MOSFET circuits; Quality of experience; Stress measurement; Random access memory; off-state stress; gidl-state stress; pMOSFET; interface trap; oxide charge trap; turn-around effect;
机译:截止应力老化的p型多晶硅薄膜晶体管的栅诱导漏极泄漏电流特性
机译:微波退火法分析宽漏极多晶硅FinTFTs的断态漏电流
机译:通过加速功率循环测试分析商用650 V离散型GaN-on-Si HEMT电源器件的断态漏源漏电流故障机理
机译:后应力亚微米pMOSFET的完整不对称漏极电流模型
机译:预应力混凝土梁非线性模型的比较分析
机译:二维神经模型中的频率偏好:共振电流和放大电流之间相互作用的线性分析
机译:漏极扩展PMOS晶体管的关态应力的综合分析: 参数退化和介电失效的理论与表征