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Soft Error Mitigation Using Transmission Gate With Varying Gate and Body Bias

机译:使用具有可变门和人体偏置的传输门来减轻软错误

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摘要

Soft errors not only are major threats to SRAM, but also have become a major threat to the reliability of logic circuits. This article proposes a new transmission-gate approach to filter out soft errors, and it is more efficient when to the thanks to its to compared state of art solutions, capability adjust gate and body bias voltages.
机译:软错误不仅是对SRAM的主要威胁,而且已经成为对逻辑电路可靠性的主要威胁。本文提出了一种新的传输门方法来滤除软错误,并且由于其与现有技术解决方案相比较,能够调整门和主体偏置电压,因此效率更高。

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  • 来源
    《Design & Test of Computers, IEEE》 |2017年第1期|47-56|共10页
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  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
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