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机译:高温储存和温度湿度下铜-铝丝键合可靠性预后的微观结构指标
Department of Mechanical Engineering, Auburn University, Auburn, AL, USA;
Copper wire bond; Parr bomb test; corrosion; high-temperature storage life; intermetallics; prognostics; prognostics.;
机译:铜焊盘上的氮掺杂无定形碳涂层,具有长期湿度可靠性的直线键合
机译:热循环和高温存储下碳化硅电源模块上无压银烧结接头的电气和微观结构可靠性
机译:覆铜焊盘金属化对铝线键合可靠性的影响
机译:高温存储和高湿条件下铜铝引线键合可靠性的预测
机译:表征铝键合焊盘上铜线键合的过程和可靠性。
机译:高温低湿度环境下早期抑制混凝土裂缝机理研究
机译:键合应力和工艺温度对铝金属化镀钯银丝键合影响的研究