机译:具有偏移预测方法的自动校准读出放大器,用于节能SRAM
Birla Inst Technol & Sci Pilani, Dept Elect & Elect Engn, KK Birla Goa Campus, Pilani, Goa, India;
Madanapalle Inst Technol & Sci, Angallu, AP, India;
Intel Corp, George Town, Malaysia;
Indian Inst Technol Indore, Nanoscale Devices VLSI Circuits & Syst Design Lab, Indore, Madhya Pradesh, India;
Indian Inst Technol Indore, Nanoscale Devices VLSI Circuits & Syst Design Lab, Indore, Madhya Pradesh, India;
Global Foundries, Analog & Memory IP Dev, High Speeds Serial Link, Bangalore, Karnataka, India;
SRAM; Input-referred offset; Power-delay product; Differential current; Process variation;
机译:使用混合抵消消除的读出放大器的自动校准的双模式SRAM宏
机译:用于低压SRAM的混合锁存型失调容限检测放大器
机译:紧凑型混合电流/电压检测放大器,具有偏移消除功能,适用于高速SRAM
机译:具有改进的输入的新型读出放大器设计,提到了节能SRAM的偏移特性
机译:设计节能且坚固的sram单元和片上高速缓存。
机译:基于Karhunen-Loeve变换的自动校准动态并行成像的一种新方法:KL-TSENSE和KL-TGRAPPA
机译:采用特定应用的sRam设计,利用输出预测来降低位线开关活动和统计选通的读出放大器,最高可降低1.9倍的能量/接入