机译:纳米CMOS电路中与温度有关的反向传播延迟特性
CMOS integrated circuits; circuit optimisation; delays; integrated circuit design; nanoelectronics; 180 nm; 45 nm; high temperature speed; nanometer CMOS circuits; propagation delay characteristics; reversed temperature dependent; supply voltage scaling; temperature;
机译:纳米CMOS电路中与温度有关的反向传播延迟特性
机译:纳米CMOS电路的单事件瞬态传播概率分析
机译:纳米CMOS技术中动态电路的泄漏功率特性
机译:延迟和IDDT测试在检测纳米CMOS加法器电路的电阻性开路缺陷中的有效性
机译:CMOS数字逻辑电路传播延迟模型的改进。
机译:随机纳米氮化钛晶粒引起的动态功率延迟的特性波动以及全能门纳米线CMOS器件和电路的纵横比效应
机译:纳米CmOs电路中反向温度相关的传播延迟特性