...
首页> 外文期刊>Circuitree >Fine Lines in High Yield (Part CLXIII)
【24h】

Fine Lines in High Yield (Part CLXIII)

机译:高产细线(CLXIII部分)

获取原文
获取原文并翻译 | 示例

摘要

Misregistration of innerlayer features, or true position error of such features, can be a source of shorts and opens etalized z-axis connections (PTHs, buried vias, or microvias) of multilayers don't align properly with innerlayer features. There are numerous causes for the misregistration of innerlayers. A detailed listing of all these causes is given by Kelley and Christof-ferson in Reference 1. These registration variables can be grouped into circuit design related causes, base material issues, and printed circuit manufacturing related causes. Designers may specify certain dielectric and copper thicknesses, which have an effect on the dimensional stability of the multilayer. Circuit patterns will create uneven distribution of copper across the innerlayer surface, which will influence shrinkage or expansion locally.
机译:内层特征未对准,或此类特征的真实位置错误,可能是造成短路和开路的原因,多层的等化z轴连接(PTH,掩埋通孔或微孔)与内层特征无法正确对齐。造成内层配准错误的原因很多。 Kelley和Christof-ferson在参考文献1中给出了所有这些原因的详细列表。这些配准变量可以分为与电路设计相关的原因,基础材料问题以及与印刷电路制造相关的原因。设计者可以指定某些电介质和铜的厚度,这会影响多层的尺寸稳定性。电路图形会在整个内层表面上形成铜的不均匀分布,从而影响局部的收缩或膨胀。

著录项

  • 来源
    《Circuitree》 |2009年第4期|15-15|共1页
  • 作者

    Karl Dietz;

  • 作者单位
  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号