机译:通过热浸在Bi2O3中的缺氧氧化锌薄膜的高度非线性压敏电阻:温度的影响
China Univ Geosci, Sch Engn & Technol, Beijing 100083, Peoples R China|Beijing Univ Posts & Telecommun, Sch Sci, Beijing 100876, Peoples R China;
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ZnO varistor; Thin film; RF magnetron sputtering; Hot-dipping; Electrical properties;
机译:热处理时间对在氧化铋粉中热浸缺氧氧化锌薄膜制备的高性能压敏电阻的影响
机译:通过在不同温度下的Ta2O5粉末中的热浸锡氧化锡薄膜制造的高度非线性压敏电阻器
机译:高性能压敏电阻简单地通过PR6O11中的热浸氧化锌薄膜:温度的影响
机译:基板温度对磁控溅射沉积氧化锌薄膜特性的影响
机译:氢退火和衬底温度对射频溅射氧化锌薄膜性能的影响
机译:只需在Pr6O11中热浸氧化锌薄膜即可获得高性能压敏电阻:温度的影响
机译:高性能压敏电阻简单地通过PR6O11中的热浸氧化锌薄膜:温度的影响