首页> 中文期刊>电子元件与材料 >叠烧对ZnO压敏电阻中Bi2O3挥发的控制

叠烧对ZnO压敏电阻中Bi2O3挥发的控制

     

摘要

采用高能球磨法制备ZnO压敏电阻混合粉体.用XRD、SEM对其形貌和微观结构进行了表征.研究了叠烧烧结时,不同位置ZnO压敏电阻中Bi2O3的挥发情况及对其电性能的影响.结果表明:中心位置处ZnO压敏电阻的非线性系数为31,较表层提高100%;其漏电流为6.0 μA,电位梯度为345 V/mm.Bi2O3的挥发,呈现从中心到表层逐步加剧的趋势.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号