机译:沉积在波纹基板上的两个双层(Ge + SiO_2)/ SiO_2薄膜的结构和电荷俘获特性
Ruder Boskovic Institute, 10000 Zagreb, Croatia;
rnForschungszentrum Dresden-Rossendorf, 01314 Dresden, Germany;
rnCharles University in Prague, 12116 Prague, Czech Republic;
rnRuder Boskovic Institute, 10000 Zagreb, Croatia;
rnRuder Boskovic Institute, 10000 Zagreb, Croatia;
rnUniversity of Minho, 4710-057 Braga, Portugal;
rnSincrotrone Trieste, 34012 Basovizza, Italy;
rnRuder Boskovic Institute, 10000 Zagreb, Croatia;
rnRuder Boskovic Institute, 10000 Zagreb, Croatia;
机译:射频磁控溅射沉积在Pt / tio_2 / sio_2 / si衬底上的Bi_(1.5)mg_(1.0)nb_(1.5)o_7薄膜的结构和电学性质
机译:Bi_2vo_(5.5)薄膜沉积在镀铂硅{(100)Pt / tio_2 / sio_2 / si}衬底上的结构,铁电和光学性质
机译:热退火对通过溅射法沉积在SiO_2 / Si衬底上的Ti / Ge_2Sb_2Te_5 / Ti薄膜微结构性能的影响
机译:退火温度对SiO_2衬底上脉冲激光沉积薄膜结构和磁性的影响
机译:钛酸钡固溶体薄膜沉积在铜基板上的合成及性能。
机译:过渡金属掺杂对通过溶胶-凝胶法沉积在Si衬底上的TiO2膜的结构光学和磁性的影响
机译:使用射频磁控溅射在$ Pt / Ti / SiO_2 / Si $衬底上沉积的$ CaCu_3Ti_4O_ {12} $薄膜的沉积和介电特性
机译:沉积在硅衬底上的钛镍膜的结构和电学特性