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Atomic-scale chemical quantification of oxide interfaces using energy-dispersive X-ray spectroscopy

机译:使用能量色散X射线光谱法对氧化物界面进行原子级化学定量

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摘要

Atomic-scale quantification of chemical composition across oxide interfaces is important for understanding physical properties of epitaxial oxide nanostructures. Energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDS) in an aberration-corrected scanning transmission electron microscope was used to quantify chemical composition across the interface of ferromagnetic La_(0.7)Sr_(0.3)MnO_3 and antiferromagnetic BiFeO_3 quantum structure. This research demonstrates that chemical composition at atomic columns can be quantified by Gaussian peak-fitting of EDS compositional profiles across the interface. Cation diffusion was observed at both A- and B-sublattice sites; and asymmetric chemical profiles exist across the interface, consistent with the previous studies.
机译:跨氧化物界面的化学组成的原子尺度量化对于理解外延氧化物纳米结构的物理性质很重要。使用像差校正扫描透射电子显微镜中的能量色散X射线光谱(EDS)来量化跨铁磁La_(0.7)Sr_(0.3)MnO_3和反铁磁BiFeO_3量子结构的界面的化学成分。这项研究表明,可以通过跨界面的EDS组成轮廓的高斯峰拟合来量化原子柱处的化学组成。在A和B亚晶格位点都观察到阳离子扩散;界面上存在不对称化学分布,与先前的研究一致。

著录项

  • 来源
    《Applied Physics Letters》 |2013年第17期|173111.1-173111.4|共4页
  • 作者单位

    Sandia National Laboratories, P.O. Box 5800, MS 1411, Albuquerque, New Mexico 87185-1411, USA;

    Center for Integrated Nanotechnologies, Los Alamos National Laboratory, Los Alamos,New Mexico 87545, USA;

    Sandia National Laboratories, P.O. Box 5800, MS 1411, Albuquerque, New Mexico 87185-1411, USA;

    Center for Integrated Nanotechnologies, Los Alamos National Laboratory, Los Alamos,New Mexico 87545, USA;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
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