机译:使用能量色散X射线光谱法对氧化物界面进行原子级化学定量
Sandia National Laboratories, P.O. Box 5800, MS 1411, Albuquerque, New Mexico 87185-1411, USA;
Center for Integrated Nanotechnologies, Los Alamos National Laboratory, Los Alamos,New Mexico 87545, USA;
Sandia National Laboratories, P.O. Box 5800, MS 1411, Albuquerque, New Mexico 87185-1411, USA;
Center for Integrated Nanotechnologies, Los Alamos National Laboratory, Los Alamos,New Mexico 87545, USA;
机译:使用能量色散X射线光谱法对氧化物界面进行原子级化学定量
机译:通过能量分散X射线光谱法的原子尺度化学成像和金属合金结构的定量
机译:模型氧化物接口的原子尺度扫描透射电子显微镜 - 能量分散X射线光谱(STEM-EDS)映射的测量误差
机译:使用TEM能量色散X射线光谱仪(EDS)和电子能量损失谱仪(EELS)对半导体器件进行化学分析
机译:钙钛矿锰氧化物的界面物理学:偏振X射线光谱和散射研究
机译:能量色散X射线光谱法对金属合金结构进行原子级化学成像和定量
机译:通过能量分散X射线光谱法的原子尺度化学成像和金属合金结构的定量