gallium nitride; epitaxial thin films; defect density; edge/screw defect; slow positrons;
机译:螺钉和边缘位错对单个纳米线导热率的影响:分子动力学研究
机译:纤锌矿型GaN基螺钉位错的核心特性和迁移率:密度泛函理论研究
机译:低位错密度无裂纹Al_xGa_1-xN(0.133≥x> 0.1)/ GaN异质结构的生长研究
机译:Al_(0.3)Ga_(0.7)Ga / GaN异质结构的静压应变,应力和位错密度的比较研究A-Si_3N_4钝化前后
机译:通过建模和仿真了解纳米结构中的边缘和螺钉位错。
机译:新型2D结构材料:碳镓氮化物(CC-GaN)和硼-氮化镓(BN-GaN)异质结构—通过密度函数进行材料设计理论
机译:InxGa1-xN背势垒对Al0.31Ga0.69N / AlN / GaN / InxGa1-xN / GaN异质结构中位错密度的影响(0.05 <= x <= 0.14)
机译:高纯铁单晶中边缘和螺型位错密度的测定