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Dislocation density reduction in gallium arsenide on silicon heterostructures

机译:硅异质结构上砷化镓的位错密度降低

摘要

A method of forming gallium arsenide on silicon heterostructure including the use of strained layer superlattices in combination with rapid thermal annealing to achieve a reduced threading dislocation density in the epilayers. Strain energy within the superlattices causes threading dislocations to bend, preventing propagation through the superlattices to the epilayer. Rapid thermal annealing causes extensive realignment and annihilation of dislocations of opposite Burgers vectors and a further reduction of threading dislocations in the epilayer.
机译:一种在硅异质结构上形成砷化镓的方法,包括结合使用应变层超晶格和快速热退火,以降低外延层中的穿线位错密度。超晶格内的应变能会导致螺纹位错弯曲,从而阻止通过超晶格传播到外延层。快速的热退火导致相反的Burgers向量的位错发生大范围的重新排列和an灭,并进一步减少了外延层中的螺纹位错。

著录项

  • 公开/公告号US5208182A

    专利类型

  • 公开/公告日1993-05-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 KOPIN CORPORATION;

    申请/专利号US19910790356

  • 发明设计人 JAGDISH NARAYAN;JOHN C. C. FAN;

    申请日1991-11-12

  • 分类号H01L21/20;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 04:58:23

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