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Prevalence of atrial high‐rate episodes and the risk factors in Indian patients with cardiac implantable electronic devices: Real‐world data

机译:印度心脏植入式电子设备患者的房颤高发率和危险因素:真实数据

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摘要

In patients with cardiac implantable electronic devices (CIEDs), atrial high‐rate episodes (AHREs) are associated with an increased risk of developing atrial fibrillation (AF) and thromboembolism. We report here the characteristics of “real‐world” patients that may be associated with the occurrence of AHREs.
机译:在有心脏植入式电子设备(CIED)的患者中,房颤高发发作(AHRE)与发生房颤(AF)和血栓栓塞的风险增加相关。我们在这里报告可能与AHRE发生有关的“现实世界”患者的特征。

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