机译:通过过量载流子抑制半导体加工过程中自然缺陷的形成
机译:电位波动对补偿半导体的传输特性和光电导性的影响。适用于半绝缘GaAs。二。多余的载流子寿命和光电导性
机译:过量载流子对宽带隙半导体中带电缺陷浓度的影响
机译:氮掺杂ZnSe的高压退火:抑制自然缺陷的形成
机译:用半导体中单缺陷的量子信息处理和感应
机译:组蛋白信使RNA 3端成熟中的长度抑制: 插入突变体信使RNA的加工缺陷可能是 通过插入U7小核RNA来补偿
机译:在半导体期间抑制补偿原生缺陷的形成 通过多余的载体处理
机译:费米能级依赖的原生缺陷形成:金属半导体和半导体半导体接口的后果