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张国超;
江苏康博新材料科技有限公司 江苏扬州 225600;
多晶硅; 碳杂质; 甲烷; 甲基氯硅烷; 质量;
机译:红外光谱法测定多晶硅中的氧和碳杂质
机译:红外光谱法测定多晶硅中的氧和碳杂质。
机译:红外光谱法测定多晶硅中氧气和碳杂质
机译:氢暴露温度下升高温度下碳杂质动力学碳杂质动力学的仿真研究
机译:焦炭和碳阳极中金属杂质(V,Ni,Fe)的检测方法及其对阳极反应性的影响=焦炭和碳阳极中金属杂质(V,Ni,Fe)的检测方法及其对阳极的影响阳极反应性
机译:氢可以钝化掺镁GaN中的碳杂质
机译:基于电导率类型和杂质浓度控制的多晶硅栅极功函数差异的CMOS参考电压
机译:TmX-U中来源的光谱研究和杂质的控制。修订版1
机译:具有掺杂有杂质的多晶硅层中的具有杂质扩散防止层的半导体器件和使用相同杂质的DRAM器件,能够防止掺杂有多晶硅的杂质中的杂质扩散
机译:多晶硅精炼炉,可以通过在容器的一侧安装真空部件来消除空气中的杂质,从而减少多晶硅中的杂质量
机译:确定杂质的方法用于制造太阳能电池的太阳能工业中的多晶硅,涉及冷却样品直至冻结硅滴,并通过追踪分析法确定液滴中的杂质
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