辐照对IGBT特性的影响

摘要

本文简述了中子辐照对ＩＧＢＴ特性的影响，给出了器件在中国辐射注量高达１０＾１３ｎ／ｃｍ＾２时的实验结果。实验发现，随着中子注量的增加，开关进行缩短，阈值电压漂移。对于所研究的注量范围，观察的效应是由于ＩＧＢＴ少子寿命减少造成的，而不是由于有效掺杂浓度变化所致。