首页> 中文期刊> 《质量与可靠性 》 >降低集成电路封装粘片过程失效率

降低集成电路封装粘片过程失效率

             

摘要

集成电路封装行业的快速发展对粘片后产品的质量与可靠性提出了更高的要求。充分利用正交试验工具,通过大量的实验数据分析和针对性的对策实施,最终将粘片产品失效率降低至0.2%的目标值,为后续市场开发与客户订单承揽打下了坚实的基础。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号