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谢世威; 李志成; 马宗理; 付登胜;
广合科技(广州)有限公司;
广东广州510730;
通孔; 波峰焊; 填充不良; 失效分析; 服务器;
机译:3-D芯片堆叠封装上硅通孔底部填充的失效分析和实验验证
机译:无铅波峰焊填充不良?
机译:用于通孔填充和通孔填充的硫酸铜电镀工艺“ Cubelite TFII”
机译:电镀铜填充热通孔电镀铜填充热通孔热管理的影响
机译:通过设计焊接参数和PCB特性的实验,估算波峰焊和通孔返修过程中铜的相对溶解速率。
机译:波峰焊接过程中焊锡温度对引脚通孔的影响:热流体结构相互作用分析
机译:铜离子对完整硅通孔高纵横比通孔完全填充的电镀铜的影响
机译:使用金属填充通孔改善LTCC RF和无线多芯片封装中的隔离
机译:利用吸热材料填充通孔以在波峰焊期间吸收热量的方法和电子板产品
机译:通孔填充铜导体糊剂,铜导体通孔填充衬底的制造方法,铜导体通孔填充衬底,电路板,电子部件和半导体封装
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