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SiC功率器件的研究和展望

         

摘要

分析了碳化硅(SiC)功率器件的研究现状与发展趋势,给出了在SiC功率整流二极管、SiC功率晶体管以及关键工艺中取得的最新研究成果.研制出了具有较好整流特性的SiC肖特基势垒二极管,并对其输运机理和高温特性进行了研究.研制成功了国内第一个SiC MPS二极管,耐压高达600V,正向电压为3.5V时电流密度可达1 000A/cm2.研制出国内第一个SiC MOSFET和第一个SiC BCMOSFET.所制备的SiC BCMOSFET可得到最高为90 cm2/(V·S)的有效迁移率.分析了界面态电荷和界面粗糙对SiC MOSFET反型层迁移率的影响,其结果对提高SiC MOSFET器件特性有一定指导作用.

著录项

  • 来源
    《电力电子技术》 |2008年第12期|60-62|共3页
  • 作者

    张玉明; 汤晓燕; 张义门;

  • 作者单位

    西安电子科技大学微电子学院,教育部宽禁带半导体重点实验室,陕西,西安,710071;

    西安电子科技大学微电子学院,教育部宽禁带半导体重点实验室,陕西,西安,710071;

    西安电子科技大学微电子学院,教育部宽禁带半导体重点实验室,陕西,西安,710071;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 化合物半导体;
  • 关键词

    碳化硅; 器件; 晶体管; 迁移率;

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