首页> 中文期刊>光学精密工程 >应用微波技术抑制光刻胶图形的坍塌与黏连

应用微波技术抑制光刻胶图形的坍塌与黏连

     

摘要

针对显影工艺中水的表面张力导致的高高宽比抗蚀剂图形的坍塌及黏连,提出了一种基于微波加热的干燥技术来有效改善纳米抗蚀剂图形的干燥效果.该方法利用微波穿透光刻胶结构直接加热光刻胶图形间隙中残存的去离子水,水分子吸收微波的光子能量迅速蒸发,从而有效地抑制光刻胶图形的坍塌与黏连现象.利用提出的基于微波加热的干燥方法,成功获取了高260 nm、宽16 nm的光刻胶线条组和直径为20 nm的光刻胶柱形阵列,其中高高宽比线条组和由15 625根柱子组成的柱形阵列结构没有出现坍塌及黏连情况,验证了在微波产生的交变电场作用下,可以减小水分子团簇,降低水的表面张力.

著录项

  • 来源
    《光学精密工程》|2015年第1期|149-156|共8页
  • 作者单位

    中国科学院微电子研究所中国科学院微电子器件与集成技术重点实验室,北京100029;

    哈尔滨理工大学测控技术与通信工程学院测控技术与仪器黑龙江省高校重点实验室,黑龙江哈尔滨150080;

    哈尔滨理工大学测控技术与通信工程学院测控技术与仪器黑龙江省高校重点实验室,黑龙江哈尔滨150080;

    中国科学院微电子研究所中国科学院微电子器件与集成技术重点实验室,北京100029;

    中国科学院微电子研究所中国科学院微电子器件与集成技术重点实验室,北京100029;

    中国科学院微电子研究所中国科学院微电子器件与集成技术重点实验室,北京100029;

    中国科学院微电子研究所中国科学院微电子器件与集成技术重点实验室,北京100029;

    中国科学院微电子研究所中国科学院微电子器件与集成技术重点实验室,北京100029;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 光刻、掩膜;
  • 关键词

    电子束光刻; 光刻胶图形; 坍塌; 黏连; 高宽比; 微波加热;

  • 入库时间 2023-07-25 12:26:40

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号