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张立超;
中国科学院,长春光学精密机械与物理研究所,应用光学国家重点实验室,吉林,长春,130033;
超薄膜层; 膜厚; X射线衍射;
机译:使用非等距四点探针的钌薄膜精确薄膜电阻和厚度评价的霍尔效应测量
机译:精确测量薄透明薄膜:光学厚度测定的反射测量的可靠性
机译:压电响应力显微镜在(111)取向PLZT 10/40/60薄膜上测量的纳米级压电性能的厚度依赖性
机译:通过成像光谱反射测量法精确测量非均匀薄膜的厚度分布
机译:铌SNS约瑟夫逊结阵列和具有纳米级磁性点阵列的铌薄膜的高频电传输测量。
机译:厚度依赖性扩散度和溶解度纳米级沥青薄膜中环己烷的合成
机译:慢速轻载弹性 - 流体动力接触中薄膜厚度效应分析。第二部分。真空中薄膜厚度的测量。
机译:用于测量薄膜厚度的装置,能够在高分辨率下观察薄膜的厚度而精确地测量薄膜的厚度
机译:使用X射线的薄膜测量设备,可以通过控制X射线的强度来精确地测量薄膜和图案的厚度和宽度
机译:光学记录介质,相同厚度的薄膜厚度测量方法,薄膜厚度控制方法,制造方法,薄膜厚度测量装置和薄膜厚度控制器
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