静态随机存取存储器重离子单粒子翻转效应实验研究

摘要

应用重离子加速器和252Cf源进行单粒子翻转效应实验,测量得到IDT系列和HM系列静态随机存取存储器的单粒子翻转重离子LET阈值为4～8MeV*cm2/mg,单粒子翻转饱和截面为10-7cm2*bit-1量级,位单粒子翻转截面随集成度的提高而减小.实验结果表明,可以用252Cf源替代重离子加速器测量静态随机存取存储器的单粒子翻转饱和截面.