自动特征分析套件（ACS）测试系统将圆片级可靠性测试速度提高五倍

摘要

美国吉时利（Keithley）仪器公司（NYSE代码：KEI）日前宣布增强了其ACS（Automated Characterization Suite，自动特征分析套件）软件，纳入了面向半导体可靠性与寿命预测测试应用的WLR（wafer level reliability，圆片级可靠性）备选测试工具。