达林顿晶体管应用故障分析

摘要

针对达林顿晶体管在使用中管壳温升过高、输出电流较大,不能满足线路整机使用要求的问题,进行了电参数的测试对比及机理分析,提出了通过减小达林顿晶体管基区和发射区结深,并采用较小的硅片电阻率和高阻区厚度的方法,使达林顿晶体管关断时间toff减小,达到满足整机应用的目的.