首页> 中文期刊> 《现代电子技术》 >PCB布线中的过孔和电容效应分析和结构优化

PCB布线中的过孔和电容效应分析和结构优化

     

摘要

Via hole and capacitance are common disconnecting structures in multi-layer PCB wiring. As signal line travels among different layers,signal integrity problems from parasitic capacitance and inductance between via hole and backflow layer occurs. The AC coupling capacitances on common transmission lines will also bring in a structure of the resistance mutation , which will result in reflection and other related problems. By modeling and simulation for via holes on multi-layer PCB ,the ef-fects of different variables on performance of the via holes were studied to assist the analysis of signal integrity. Compensation in different modes is conducted for the resistance mutation of capacitance. The simulation results were verified by the related tests. The solution to improve the signal transmission properties was obtained.%在多层PCB布线中,过孔和电容是常见的不连续结构.信号线在不同平面间转换传输路径时,过孔与回流层之间的寄生电容与寄生电感将引起信号完整性的相关问题;而常用的传输线上的AC耦合电容等,引入了阻抗突变的结构,由此带来了反射等相关问题.通过对多层PCB上的过孔进行建模仿真,研究不同变量对过孔性能的影响趋势,以协助信号完整性问题的分析;通过对电容阻抗突变处进行不同形式的补偿,仿真和测试结果相验证,得到提高信号传输质量的解决方案.

著录项

  • 来源
    《现代电子技术》 |2015年第16期|110-114|共5页
  • 作者单位

    华进半导体封装先导技术研发中心,江苏 无锡 214315;

    中国科学院大学,北京 100049;

    华进半导体封装先导技术研发中心,江苏 无锡 214315;

    中国科学院 微电子研究所,北京 100029;

    华进半导体封装先导技术研发中心,江苏 无锡 214315;

    中国科学院 微电子研究所,北京 100029;

    华进半导体封装先导技术研发中心,江苏 无锡 214315;

    中国科学院大学,北京 100049;

    中国科学院 微电子研究所,北京 100029;

    华进半导体封装先导技术研发中心,江苏 无锡 214315;

    中国科学院 微电子研究所,北京 100029;

    中国科学院 微电子研究所,北京 100029;

    华天科技有限公司,陕西 西安 710018;

    华进半导体封装先导技术研发中心,江苏 无锡 214315;

    中国科学院 微电子研究所,北京 100029;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 TN41-34;
  • 关键词

    PCB传输线; 过孔效应; 阻抗突变; 信号完整性;

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号