机电设备BIT系统中虚警的传感层影响机理分析

摘要

BIT系统中存在较高的虚警率是制约其发展的关键问题之一,降低BIT系统中虚警率的研究是BIT研究中的主要内容之一.传感数据变化影响诊断输出,从而产生虚警的机理分析,它是后续的降虚警技术研究的基础.首先对传感层测试变化影响诊断输出,进而产生虚警进行了模型分析,然后分析了不同的测试变化类型对基于模型的诊断方法的影响机理.研究结果证明传感层因素对BIT系统中虚警的影响,能有效地指导降虚警技术的研究.