机电设备BIT系统中虚警问题的数学模型分析

摘要

BIT虚警率是影响BIT正常使用的主要问题之一.与电子系统相比,由于机电设备的功能和结构的复杂性使得其测试性问题更复杂,其中的虚警问题更加突出.本文以机电设备BIT系统为背景,基于BIT系统处理流程对虚警率的进行建模,并对其影响因素进行系统分析.提出BIT虚警率的分析模型,基于该模型分析结果,为降低BIT系统中的虚警率,提出嵌入数据异常检测和恢复功能的BIT改进模型,并证明了该模型的有效性,导出改进模型中影响虚警率的主要特性参数,从而为实现降低虚警率的技术研究提供理论指导.